[实用新型]用于测试载板的模拟测试装置

说明书

技术领域

本实用新型有关一种用于测试载板的测试装置，特别是关于一种具有模块化设计，且用于测试载板的模拟测试装置。

背景技术

随着集成电路的发展整合度需要愈来愈高，系统单芯片也内建愈来愈多的模拟信号处理运算电路。虽然整体芯片的整体产值提高许多，但此举也增加了测试时的困难度与成本。

现有测试系统单芯片的模拟信号的测试装置架构，请参阅图1所示，其于一测试载板10上主要设置有一待测元件(Device under test，DUT)的系统单芯片12，其内建有一模拟信号处理运算电路122；在测试载板10上另设有一高阶自动测试设备(high end ATE)接头14，用以连接一高阶自动测试设备机台16，并利用高阶自动测试设备接头14使系统单芯片12与高阶自动测试设备机台16形成电气连接，以进行信号量测，利用高阶自动测试设备机台16内建的模拟信号分析模块162对系统单芯片12内的模拟信号处理运算电路122进行模拟信号测试。

另一种现有的测试装置则请参阅图2所示，其于一测试载板20上主要设置有一待测元件的系统单芯片22、一继电器(relay)24、一自动测试设备接头26以及一陪测电路28。此种方式利用继电器24作测试路径切换测试，以利用连接自动测试设备接头26的自动测试设备机台对系统单芯片22进行断路(open)/短路(short)测试，或是利用陪测电路28对系统单芯片22进行模拟信号的测试；但此种架构下的陪测电路28，仅能对系统单芯片22进行功能上的量测，无法对信号品质进行确认测试。且在实际运作上会使得测试载板20变得更复杂及所需测试时间更长等相关问题。

既然采用高整合的集成电路已是不可避免的趋势，找出解决方案解决测试瓶颈才是当务的急要务。上述两种解决方案不外乎是增加功能模块或是直接更新机台，但这些方法都需要花费许多金钱成本。另外，现有测试厂商亦有为数不少的测试机台是无法更新或是增加功能模块，若是这些机台无法投入产品测试，对测试厂商而言想必是一大损失。

有鉴于此，本实用新型提出一种用于测试载板的模拟测试装置，以解决存在于现有技术的该等缺点。

发明内容

本实用新型的主要目的在于提供一种用于测试载板的模拟测试装置，其利用模块化设计，再利用高速连接器整合于测试载板上，以完成待测元件相关的模拟信号电路介面测试，不仅可提高测试机台的使用稼动率，更能降低测试载板的模拟信号复杂度，以大幅降低其测试成本。

本实用新型的另一目的在于提供一种用于测试载板的模拟测试装置，其可使用较低阶的测试机台来有效解决系统单芯片的高速模拟信号介面测试。

本实用新型的再一目的在于提供一种用于测试载板的模拟测试装置，其是模块化设计且为独立运作，故可适用于各种厂牌的自动测试机台；且利用模块板设计，更可快速更换至不同的测试载板。

本实用新型的又一目的在于提供一种用于测试载板的模拟测试装置，其可根据客户的实际需求弹性设计出各种模拟信号测试模块。

为达到上述目的，本实用新型提出的用于测试载板的模拟测试装置，包括有：一测试载板，其上可供安装至少一待测芯片；并有一模拟信号测试模块安装于此测试载板上，并利用内建的一高速连接器电气连接至待测芯片，以进行模拟信号测试。

再者，在上述的测试载板上更设有一自动测试机台接头，其电气连接待测芯片，使待测芯片可利用此自动测试机台接头连接至一自动测试机台，以进行断路或短路测试。

另外，为进行测试切换，本实用新型更设有一切换开关组，所述切换开关组一端连接至待测芯片，所述切换开关组另一端分别连接至模拟信号测试模块及自动测试机台接头，用以切换待测芯片选择性电气连接至模拟信号测试模块或自动测试机台接头，以分别进行模拟信号测试或断路或短路测试。

实施时，该自动测试机台是高阶自动测试机台或是低阶自动测试机台。

实施时，该模拟信号测试模块更包括：

至少一模拟数字转换单元，连接该高速连接器，以接收一模拟测试信号，并将其转换成一数字测试信号；

一数字信号处理单元，其连接该模拟数字转换单元，并接收分析该数字测试信号，以侦测其信号品质；以及

一可调变频率产生器，其连接该数字信号处理单元，以提供其所需的时脉信号。

实施时，该模拟信号测试模块活动插拔式插设于该测试载板上。

与现有技术相比，本实用新型所述的用于测试载板的模拟测试装置，其利用模块化设计，再利用高速连接器整合于测试载板上，以完成待测元件相关的模拟信号电路介面测试，不仅可提高测试机台的使用稼动率，更能降低测试载板的模拟信号复杂度，以大幅降低其测试成本。