[实用新型]电子元件测试机构

说明书

技术领域

本实用新型是有关一种电子元件，例如集成电路(IC)测试机构，尤指一种具有定位确实、接触稳定的电子元件测试机构。

背景技术

电子元件，例如集成电路(IC)制成后，通常须要经过测试后，以确保电子元件的品质，方能进行后续的包装出货作业。

即以重力传感器(g-sensor)的集成电路为例，因其可提供速度和位移的信息。所以重力传感器可以用来测量目前装置，例如遥控器或手机的倾斜角度，以便输出不同的电压值，再经由程序转换后得出数值后，进而控制电视游乐器中的动作或将手机屏幕的图像进行翻转。

因此，该重力传感器的倾斜角度测试，并非一般集成电路测试机所能胜任，而是必须借助动态球形旋转测试机的旋转动作，以便测试该重力传感器在旋转时是否发生异常。如图1所示，乃已知动态球形旋转测试机的示意图，该测试机是在一机台10上相对设有一对支架101，该对支架101间以一第一枢轴102枢接一外框件20，且该第一枢轴102经由第一传动装置103的正、逆转，使该外框件20相对于第一枢轴102的X轴方向呈前、后转动；该外框件20内套设一内框件30，该内框件30于X轴的垂直方向装设一第二枢轴301，该第二枢轴301经由一装设于外框件20的第二传动装置302的正、逆转，使该内框件30相对于第二枢轴301的Y轴方向呈左、右转动。

其中，该内框件30上装设一电子元件测试机构40，如图1至图2b所示，该机构40是在一基座401表面以阵列方式开设多个容置凹槽402，各容置凹槽402内依据待测试集成电路的脚位对应设置探针403，而为使待测试集成电路于该动态球形旋转测试机座动时的定位，各容置凹槽402上方横向枢设一可转动的压掣臂403，且各容置凹槽402前、后侧相对设有一对弹性伸缩架404，而各压掣臂403则枢设于一弹性伸缩架404。

如欲进行动态测试时，该机台10由底部所连接的升降机构的作动，而将该机台10上升，使该等弹性伸缩架404触及一顶盖(未予以图标，以箭头代表)后被压缩，而将该等压掣臂403如图2b所示因转动而向上翘起。此时，一机械手臂上具有等同于容置凹槽402阵列配置的吸嘴移动至该顶盖上方，并将各吸嘴所吸附IC穿过该顶盖对应容置凹槽402阵列所开设穿槽，而将各IC置于容置凹槽402内后，该机械手臂移开，而机台10再度由升降机构的作动，而缓慢地下降，而此下移过程中，若该等弹性伸缩架404尚未完全伸展时，使压掣臂403无法向下压掣IC，而令所有的IC因处于非定位状态，容易造成偏移现象，进而无法与探针403形成准确的对位关系，以致在随后的外、内框件20、30分别进行前后、左右转动的倾斜角度测试，将无法获得准确的测试结果。

尤其是，由于前述电子元件测试机构40的结构复杂，例如各容置凹槽402的两侧需相对设置一对弹性伸缩架404，且其中一弹性伸缩架404内以杠杆原理枢接一压掣臂403的组合，将限制电子元件测试机构的扩充性，亦即IC同时进行检测数量受到限制；以及因机台10顶底部需分别设置伸降机构及顶盖，而使得该动态球形旋转测试机体积庞大，而亟待改善。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种电子元件测试机构，该测试机构使得待测试电子元件，例如集成电路具有定位确实、接触稳定、扩充性佳、及有效缩减机台体积的优点。

为达成前述的目的，本实用新型所采取的技术手段是提供一种电子元件测试机构，其包括：

一基座，其表面设有至少一基座连接器，以及伸出至少一对彼此隔开且可开合的夹具；

一吸盘座，其纵向开设多个纵向槽，各纵向槽底部连通一可吸附或释放电子元件的容置凹穴；以及

一定位测试装置，其装设于该基座顶面，该装置进一步包括：

一电路板，其表面依据各容置凹穴内的电子元件接脚位置设有经电路布局的接点，且该电路板纵向开设供各夹具穿出的板孔，另于该电路板底面设有至少一与该基座连接器相对接的电路板连接器；

一定位框，其固设于该电路板顶面，该定位框纵向开设一开口，开口顶部两侧相对设有一对限位板；以及

一探针座，其套设于该开口内，并使两侧边邻接该对限位板底面，该探针座对应各接点位置插接可弹性伸缩的探针，并将各探针底部与对应的接点相接触；

当吸盘座与定位框对接时，该至少一对可开合的夹具夹住该吸盘座，使该吸盘座底面所吸附的各电子元件被探针座顶面突伸的探针所顶持与接触。

本实用新型的有益效果是：具有定位确实、接触稳定、扩充性佳、及有效缩减机台体积的优点。

附图说明