[实用新型]一种半导体功率器件的热阻测试仪有效
| 申请号： | 201020521051.6 | 申请日： | 2010-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN201773168U | 公开（公告）日： | 2011-03-23 |
| 发明（设计）人： | 闫伟;汪江涛;陈凤霞;吴洪江;默立冬 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 夏素霞 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 功率 器件 测试仪 | ||
1.一种半导体功率器件的热阻测试仪，电路结构中包括带有配套管理程序的CPU(1)、设有测试恒流源(2-1)、加热恒流源(2-2)、加热电压源(2-3)的热阻测试电路(2)、以及采集被测器件(5)端电压和壳温的热阻测试参数采集电路(3)，其特征在于：所述的热阻测试仪的电路结构中增设连接被测器件的插件接口电路(4)以及开关转换电路(6)，CPU(1)借助插件接口电路(4)中的编码电路采集被测器件(5)引脚信息、解码计算处理后输出控制信号至开关转换电路(6)的受控端，开关转换电路(6)借助继电器的触点吸合分别将测试恒流源(2-1)、加热恒流源(2-2)或加热电压源(2-3)接入被测器件(5)的测试端。
2.根据权利要求1所述的一种半导体功率器件的热阻测试仪，其特征在于：所述的开关转换电路(6)是由三极管(Q1)、继电器(K)和配套电阻元件组成的电流放大电路，三极管(Q1)的基极接收CPU(1)发送的控制信号，集电极通过继电器(K)的线圈接在工作电源端，继电器(K)的触点吸合分别将测试恒流源(2-1)、加热恒流源(2-2)、加热电压源(2-3)接入被测器件(5)的测试端。
3.根据权利要求1所述的一种半导体功率器件的热阻测试仪，其特征在于：所述的插件接口电路(4)中的编码电路是一组串联在被测器件(5)各个引脚端的并联电阻(R1、R2、R3)，CPU(1)借助电压采集端采集电阻(R1、R2、R3)两端的电压并分析处理。
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