[实用新型]光学量测设备有效

专利信息
申请号: 201020543477.1 申请日: 2010-09-16
公开(公告)号: CN201852559U 公开(公告)日: 2011-06-01
发明(设计)人: 王家威 申请(专利权)人: 明基材料有限公司;明基材料股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/26;G02F1/1335
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215121 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 光学 设备
【说明书】:

技术领域

实用新型关于一种量测治具,且特别是关于一种确认吸收轴角度是否正确(检测吸收轴角度)的光学量测设备。

背景技术

在液晶显示荧幕(TFT-LCD panel)的结构中,关于偏光板多层片体的贴合制程或是检视偏光片贴设在玻璃基板等贴合检测技术,通常都是藉由人工凭靠经验、感觉或目测确认。然而在LCD复杂且多工的制程中,若其中一阶段制程疏失或错误将造成后续制程不必要的加工、成本的增加及人力的浪费等无以弥补的损失。

当偏光片贴附到玻璃基板或治具上时,以习知非科学的方法检测偏光片的光学或物理特性,往往会因为制程人员的手法、经验不同而有所误差,以致于造成后续制程产品良率降低或不良品增加等现象。

因此,为了解决上述问题,并以科学化方法确认偏光片的光学或物理特性或达到其它需求,创作人经多年设计及实务经验,再次改良如下。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种检测偏光片吸收轴角度的光学量测设备。

本实用新型的另一目的在于提供一种量测光学膜片与治具间的密合度,藉以判断吸收轴角度是否正确的光学量测设备。

本实用新型的再一目的在于提供一种避免人为检测疏失造成吸收轴量测不正确的光学量测设备。

本实用新型提供一种光学量测设备,供与光学膜片配合使用,该光学量测设备包含治具以及供测量该光学膜片与该底座间的密合程度的位置感测装置。该治具具有第一侧壁、第二侧壁及连接该第一侧壁及该第二侧壁的底座,该第一侧壁、该第二侧壁及该底座共同形成容置空间,该第一侧壁与该第二侧壁平行,且该第一侧壁高度大于该第二侧壁的高度。该供测量该光学膜片与该底座间的密合程度的位置感测装置设置于该容置空间内。

作为可选的技术方案,该第一侧壁还包含检视孔,该检视孔的高度大于该第二侧壁的高度。

作为可选的技术方案,该检视孔分别穿过该第一侧壁两侧面。

作为可选的技术方案,该检视孔形状为圆形、矩形、三角形、椭圆形或不规则形状。

作为可选的技术方案,该容置空间的宽度大于或等于该光学膜片的厚度。

作为可选的技术方案,该位置感测装置包含一对深度计,分别设于该底座两侧。

作为可选的技术方案,该位置感测装置包含一对压力感测器,分别设于该底座内,并位于该底座的两侧。

作为可选的技术方案,该位置感测装置包含一对光学感测器,每一该对光学感测器具有光发射感测器及光接收感测器。

作为可选的技术方案,该光发射感测器设于该第一侧壁并邻近该底座,该光接收感测器则设于该第二侧壁并与该光发射感测器相对设置。

本实用新型的光学量测设备具有位置感测装置,用以量测光学膜片的侧缘是否已与底座密合。换言之,当光学膜片置于治具的底座并贴附于第一侧壁壁面时,藉由位置感测装置测量光学膜片是否正确对齐底座。若光学膜片正确对齐治具底座,则进一步透过仪器检测吸收轴角度是否正确。相较于传统技术,本实用新型的光学量测设备具有结构简单,便于检测且测量更准确的优点。

于本实用新型的优点与精神可以由以下的附图说明及具体实施方式详述得到进一步的了解。

附图说明

图1为本实用新型光学量测设备的侧视图;

图2A为本实用新型光学膜片置入光学量测设备的示意图;

图2B为图2A的另一具体实施方式的前视图;

图3为本实用新型光学膜片置入光学量测设备的立体图;

图4为本实用新型另一具体实施方式图;以及

图5为本实用新型又一具体实施方式的示意图。

具体实施方式

本实用新型一种量测光学膜片的吸收轴角度的光学量测设备。在此所述的光学膜片较佳指软性又轻薄的偏光片(Polarizer Sheet)。然而在其它不同的具体实施方式中,光学膜片亦可为扩散膜、棱镜片、反射板或其它光学膜片,甚至是质硬而量测其它不同光学特性的膜片等。此外,在此所述的吸收轴(absorbingaxis)指与穿透轴垂直的轴,即将光线吸收的方向的轴向。以下即配合所附图式进一步说明本实用新型的各具体实施方式及相关步骤。

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