[实用新型]载带弯曲度测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种载带弯曲度测量仪。 

背景技术

SMD电子元件在完成制造后，运输及储存中常用到均使用载带。载带的结构如图1所示，载带1包括基片11，基片11设置有用于容纳电子元件的容置槽12，基片11上还设置有多个通孔13。使用时，将电子元件放置于容置槽12内，在基片1表面封盖一条盖带(图中未示出)，将电子元件封在容置槽12内。 

载带1的生产一般使用长条形的高分子材料薄片经吸塑而成。吸塑时，需要对薄片高温加热，利用真空吸塑模具形成容置槽，然后冷却，冲孔，直至生产完成后卷绕在卷盘上。所有过程均可采用自动化生产完成。 

为满足自动化生产的需要，对载带的质量具有一定的要求，其中一个重要的质量指标是载带是否弯曲，弯曲度是否超过限定的范围。所述的弯曲度，是指载带沿长度方向，其边缘是否成直线。换句话说，是指其沿长度方向，是否存在边缘不在一条直线的状况。弯曲的载带沿长度方向大致为弧形，或者不规则的弯曲。载带弯曲程度如超过限定的范围，会严重影响后续的生产，既会影响载带与盖带的结合力；会造成封盖盖带时密封不严，造成电子元件侧翻、翘脚等不利后果。 

载带存在弯曲的原因有多种，有可能是高分子材料薄片在受高温加热后吸塑时，其各部位受热不均导致变形程度不统一；在冷却时，各部位收缩程度不一致等，都有可能造成载带弯曲。 

在自动化生产中，载带生产后直接卷绕在卷盘上，利用肉眼很难观察到其是否存在弯曲。即使能够观察到，也难以确定其弯曲的程度是多大，弯曲程度是否超出限定的范围。 

但现有技术中没有载带弯曲度测试的设备，只能借助于肉眼观察，不仅精确度差，而且费时费力。如判断不准，使用了不符合标准的载带，则在后续生产中会造成更大的浪费。 

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种可方便地测量载带是否存在弯曲的载带弯曲度测试装置。 

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案实现： 

载带弯曲度测试装置，其特征在于，包括基板，所述基板表面间隔设置有两段以上的刻度线。 

使用时，将载带放置于基板表面，使载带沿长度方向分别有两个以上的边缘部位分别位于一个刻度线的刻度处，读出两个以上的刻度值，根据两个以上的刻度值是否相同，则可判断是否存在弯曲。如果两段以上的刻度线起点位于同一直线上，如两个以上的刻度值相同，则说明载带不存在弯曲，如两个刻度值不同，则可根据其刻度值的差别大小，确定其弯曲程度。当然，如果两段以上的刻度线起点未位于同一直线上，如各部位的刻度值不同，则通过计算之后，也可以确定是否存在弯曲。 

当然，也可以利用上述方法测试载带各部位的宽度是否相同。 

优选地是，所述两段以上的刻度线平行设置。 

两段以上的刻度线平行设置，更方便测量。 

优选地是，所述的两段以上的刻度线起点位于一直线上，所述直线与两段以上的刻度线均垂直。此优选方式可不用计算，直接根据其载带各部位位于的刻度位置是否相同而判断是否存在弯曲。 

优选地是，每段刻度线分别设置于一个直尺上，每个直尺均安装于基板表面。 

更优选地是，直尺镶嵌在基板表面，直尺表面与基板表面位于同一平面，且直尺可拆卸的安装于基板上。 

将直尺安装于基板表面，相对于在基板表面设置刻度线，生产更加方便，在刻度线有损坏时，更换也方便。 

优选地是，每段刻度线分别设置于一个直尺上，直尺数目为两个以上且与刻度线段数相同，每个直尺均安装于基板表面，两个以上的直尺平行设置。 

优选地是，所述基板表面设置有突出于基板表面的固定柱。 

本实用新型根据载带的结构特点，设置固定柱，固定柱可穿过载带的通孔， 

因此，在使用时，可选择载带的一处位置的通孔穿过固定柱，将该处固定， 

另一端可由使用者用手拉住，使载带处于自然的平直状态下进行测试。 

优选地是，所述的固定柱数目为两个以上，两个以上的固定柱沿直线排列。 

优选地是，所述的两个以上的固定柱沿与刻度线垂直的方向排列。 

采用两个以上的固定柱，将两处不同位置的通孔分别穿过一个固定柱，根据两点确定一条直线的原理，载带处于自然的平直状态，以此测试，无需使用者拉住另一端，省时省力，效率高。 

优选地是，所述固定柱安装于滑块上，滑块可沿刻度线平行的方向移动地安装于基板表面。