[实用新型]一种激光测距系统有效

专利信息
申请号: 201020565242.2 申请日: 2010-10-15
公开(公告)号: CN201886152U 公开(公告)日: 2011-06-29
发明(设计)人: 黄梦园;李成;严光文 申请(专利权)人: 北京握奇数据系统有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 北京市朝阳区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 测距 系统
【权利要求书】:

1.一种激光测距系统,其特征在于,包括出光装置、收光装置和计算单元,所述出光装置出射高阶模激光,所述收光装置接收所述出光装置出射的高阶模激光经物体表面反射回来的信号光,所述计算单元对所述收光装置接收的信号光的光强进行计算得到需要测量的距离。

2.根据权利要求1所述的激光测距系统,其特征在于,所述出光装置沿出光方向包括的元件有:基模激光光源,准直透镜,偏振片,半圆形的相位调整片,聚焦透镜,光纤和出光准直透镜;所有所述元件的主光轴与出射光轴重合,并且所述基模激光光源的发光端面中心处于所述准直透镜的焦点上,所述光纤的前端面中心位于所述聚焦透镜的焦点上,所述光纤的后端面中心位于所述出光准直透镜的焦点上;其中所述偏振片和所述半圆形的相位调整片的组合产生π的相位差。

3.根据权利要求2所述的激光测距系统,其特征在于,所述半圆形的相位调整片的直径与所述偏振片的偏振方向垂直。

4.根据权利要求2所述的激光测距系统,其特征在于,所述准直透镜、所述偏振片、所述半圆形的相位调整片和所述聚焦透镜具有相同的半径。

5.根据权利要求2所述的激光测距系统,其特征在于,所述光纤的归一化频率处在2.40483到3.83170之间。

6.根据权利要求5所述的激光测距系统,其特征在于,所述光纤的纤芯为椭圆形。

7.根据权利要求6所述的激光测距系统,其特征在于,所述出射的高阶模激光为TEM01模式或TEM10模式。

8.根据权利要求1-7任一所述的激光测距系统,其特征在于,所述收光装置沿收光方向包括的元件有:收光聚焦透镜,滤光片和光电探测器;所有所述元件的主光轴与反射光轴重合,并且所述光电探测器的收光端面中心处于所述收光聚焦透镜的焦点上,所述滤光片的半径大于等于所在位置处的聚焦光束的半径。

9.根据权利要求8所述的激光测距系统,其特征在于,所述出光装置的出射光轴与所述收光装置的反射光轴异轴。

10.根据权利要求8所述的激光测距系统,其特征在于,所述收光装置在所述收光聚焦透镜前端还设置有反射镜,使得所述出光装置的出射光轴与所述收光装置的反射光轴同轴。

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