[实用新型]一种用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台无效

专利信息
申请号: 201020579001.3 申请日: 2010-10-21
公开(公告)号: CN201885971U 公开(公告)日: 2011-06-29
发明(设计)人: 孟永宏;赵鑫 申请(专利权)人: 北京量拓科技有限公司
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41;G01B11/06
代理公司: 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 代理人: 尹振启
地址: 100098 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 椭偏仪中 晶体 太阳电池 检测 样品
【权利要求书】:

1.一种用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台,其特征在于,该样品台包括方位调节台和设置在其上的台面,方位调节台和台面之间还设置有台面连接件,该台面连接件上设置有两个用于承载台面的定位面,该两个定位面之间设置有54.7°±5°的夹角。

2.如权利要求1所述的用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台,其特征在于,两个所述定位面包括一个水平面和一个倾斜面。

3.如权利要求2所述的用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台,其特征在于,所述水平面和倾斜面上均设置有定位装置和连接装置,所述台面的背面设置有与定位装置相适配的定位结构、与连接装置相适配的连接结构。

4.如权利要求3所述的用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台,其特征在于,所述定位装置包括圆柱端面配合平面结构、倒三角形定位结构、半圆形定位结构。

5.如权利要求3所述的用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台,其特征在于,所述连接装置包括设置在其上的磁铁或连接插柱。

6.如权利要求1所述的用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台,其特征在于,所述台面上设置有安装待测样品的定位部。

7.如权利要求1所述的用于椭偏仪中晶体硅太阳电池检测的样品台,其特征在于,所述方位调节台上设置有在水平面X和Y方向平移、沿垂直的Z方向平移、以及俯仰两个转角调节的活动件。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京量拓科技有限公司,未经北京量拓科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201020579001.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top