[实用新型]一种超半圆球径仪无效

专利信息
申请号: 201020584674.8 申请日: 2010-10-29
公开(公告)号: CN201885668U 公开(公告)日: 2011-06-29
发明(设计)人: 崔杰 申请(专利权)人: 西安北方捷瑞光电科技有限公司
主分类号: G01B5/22 分类号: G01B5/22
代理公司: 西安西交通盛知识产权代理有限责任公司 61217 代理人: 黄瑞华
地址: 710075 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 半圆 球径仪
【说明书】:

【技术领域】

实用新型涉及测量技术领域,特别涉及一种超半圆球径仪。

【背景技术】

目前在机械加工、光学加工过程中快速、准确测量加工表面面形误差的主要工具为刀口尺,其测量精度较低,测量范围小,无法满足微米级精度面形偏差的测量。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是提供一种超半圆球径仪,其能够快速测量非抛光表面或抛光表面的面形偏差,测量精度达到亚微米级。

为了实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:

一种超半圆球径仪,包括指示类传感器或指示表、超半圆底座,指示类传感器或指示仪表固定于超半圆底座的圆心处,超半圆底座底部设有3个支脚。

所述3个支脚底部共面,所述3个支脚对称的分布于所述超半圆底座底部边缘处。

所述超半圆底座的圆心处设有一通孔,所述指示表包括一测量头,所述测量头通过超半圆底座的圆心处的通孔伸出超半圆底座外。

所述指示表为千分表。

与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:本实用新型一种超半圆球径仪通过在一超半圆基座的圆心处设置一指示仪能够快速、准确的测量出待测表面与标准平面件的面形误差;超半圆形的基座能够使指示仪最大限度的测量到被测面边缘的面形误差;本实用新型超半圆球径仪由于采用了高精度的千分表,其测量精度可以达到亚微米级。

【附图说明】

图1为本实用新型一种超半圆球径仪测量被测表面的示意图;

图2是本实用新型的超半圆底座的仰视图。

【具体实施方式】

下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述。

请参阅图1所示,本实用新型一种超半圆球径仪包括指示表1、超半圆底座2。指示仪表1固定于超半圆底座2的圆心处,超半圆底座2底部设有3个支脚21,该3个支脚21底部共面,该3个支脚21对称的分布于超半圆底座2底部边缘处。使用时,首先利用标准的参考面将指示仪表2对零,再用该超半圆球径仪测量被测表面3,使测量点从被测件中心一直延伸到边沿,每隔15~20mm测量一个点,最后汇总各个点的测量值,将各个点连接起来,就可以绘出面形的误差曲线。

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