[实用新型]具控制处理核心数量的控制装置及其电子系统无效

专利信息
申请号: 201020591235.X 申请日: 2010-11-04
公开(公告)号: CN201955780U 公开(公告)日: 2011-08-31
发明(设计)人: 郭宗仁 申请(专利权)人: 精英电脑股份有限公司
主分类号: G06F15/163 分类号: G06F15/163
代理公司: 上海宏威知识产权代理有限公司 31250 代理人: 金利琴
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 控制 处理 核心 数量 装置 及其 电子 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型是有关于一种控制装置及其电子系统,特别是有关于一种具控制处理核心数量的控制装置及其电子系统。

背景技术

中央处理器(Central Processing Unit,CPU)(在此称为处理单元),是电脑的主要装置之一。其功能主要是解释电脑指令以及处理电脑软体中的资料。由于科技的发达,现今CPU技术发展越来越好,从原本单核心CPU到现在的二核心CPU、三核心CPU、甚至四核心CPU。而核心数量越高的CPU,其处理效能也就越强,但相对来说价格也就更加的高。

然而,制作CPU的公司有许多间,而某些公司在制作四核心CPU的过程当中,基于某种原因使得四核心CPU其中某些核心被关闭或无法启动,而使CPU只能以二核心或三核心的功能运作,因此这些公司就会将此些CPU以二核心或三核心的价格卖出。而买到这些CPU的部份使用者或是一些技术人员,对于此种的CPU发展出一种开核技术,即是利用一些技术将CPU中原本被关闭或无法启动的核心经过开核后使其可运作,如此就可将原本只能以二核心或是三核心运作的CPU恢复成四核心来运作。

目前,大多数可以开核的CPU都是来自超微半导体公司(Advanced Micro Devices, Inc.,AMD)所生产的CPU,如要对AMD700系列的CPU做开核,而目前技术要对于此些可以开核的CPU进行开核,主要是利用主机板上可以支援进阶时脉校准(Advanced Clock Calibration,ACC)功能的AMD700系列晶片组的SB750南桥晶片或内嵌式控制器(Embedded Controller,EC)来达到开核的功能,如图1a及1b所示。图1a中,是利用主机板0上的一基本输入输出系统(Basic Input/Output System,BIOS)01去控制额外加载的内嵌式控制器02传送一进阶时脉校准信号04至中央处理器03,将原是二核心或三核心的CPU恢复为四核心。而图1b中,是利用主机板0上的基本输入输出系统01去控制南桥晶片05,以将进阶时脉校准信号04传至中央处理器(CPU)03,让中央处理器03达到开核,使原来是二核心或三核心的CPU恢复为四核心。不过由于AMD K8系列CPU的主机板上的AMDS8XX系列的南桥晶片已无支援ACC功能,且AMD K8也已经不支援EC的功能,因此,如何能以不使用EC,依然能达成AMD K8系列CPU的开核,便是我们所要探讨的问题。

发明内容

因为上述现有技术存在的问题,本实用新型的目的就是在提供一种具控制处理核心数量的控制装置及其电子系统,可不需额外加载EC或是微处理器便可达到开核功能,使二核心或三核心的CPU开核为四核心CPU,以提升主机系统的效能,而本实用新型所提出的具控制处理核心数量的控制装置及其电子系统,其处理单元为AMD K8系列CPU。

根据本实用新型的目的,提出一种具控制处理核心数量的控制装置,适用于一主机系统,该控制装置包含一处理单元(CPU)、一桥接单元(例如南桥晶片,South Bridge chip)、一控制单元(例如超级输入输出晶片,Super I/O)及一转换单元(例如电压位准移位晶片,Level Shifter)。该处理单元具有已运作的多个启动核心及至少一未启动核心。该桥接单元与该处理单元连接。该控制单元包含一输入输出模组(例如多个通用型输入输出接脚,General Purpose I/O,GPIO)以传送至少一指令信号及一监测模组(例如看门狗监测计时器,Watch Dog),该监测模组与该桥接单元连接以监测该处理单元。该转换单元接收该指令信号并转换该指令信号为至少一启动信号至该处理单元,以启动该未启动核心,当该未启动核心启动时,该处理单元会中断运作,该监测模组监测到该处理单元中断运作时会发出一监测分析信号至该桥接单元,该桥接单元根据该监测分析信号发送一重置信号至该主机系统及该处理单元,使该主机系统及该处理单元重新启动,该主机系统及该处理单元重新启动后,该未启动核心变为已启动状态并与该些启动核心同时运作。

在本实用新型的控制装置中,该主机系统可更包含一基本输入输出系统(BIOS),下达命令使该控制单元发出该指令信号。

再者,指令信号可包含时脉信号、数据信号及晶片选择信号,经由转换单元分别传送至处理单元中的测试时脉(Test Clock,TCK)接脚、测试数据输入接脚(Test Data Input,TDI)及测试模式选择(Test Mode Select,TMS)接脚。

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