[实用新型]LED静态模组测试卡无效

专利信息
申请号: 201020593738.0 申请日: 2010-11-05
公开(公告)号: CN201868067U 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 郝家旺 申请(专利权)人: 上海广电通信技术有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;H05B37/02
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 施浩
地址: 200233*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: led 静态 模组 测试
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种检测设备,尤其涉及对LED行业中LED静态显示模组的检测。

背景技术

目前LED产品已广泛应用于银行、证券、税务、电力、医院、车站、港务、工厂等各行各业。随着LED行业的蓬勃发展,LED产品的生产已经达到规模化、批量化,对LED产品检测工作也随之加剧。

然而目前市场上针对大批量模组的测试、老化,却很难找到一种操作简单、测试功能齐备的测试卡。如市场上大规模使用的灵心雨控制卡在进行模组的测试的时候,对驱动芯片为5039的模组手动调节电流增益调节很不方便,并且在进行测试时,点亮的模组数很有限,其他诸多控制卡也遇到同类似的问题。

随着单片机技术的发展和成熟,单片机已经广泛应用到生产生活的各个领域,如智能仪表、实时工控、通信设备、导航系统、家用电器、医疗器械等,单片机用于产品,使得产品的性能大幅度提高。而AVR单片机作为单片机领域的佼佼者,具有资源丰富,性能优异,抗干扰性好,价格低廉,程序易于升级等诸多忧点,用AVR单片机开发产品具有一定工程意义。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决上述问题,提供了一种LED静态模组测试卡,通过对LED显示模组的测试,检查LED显示模组是否满足生产要求,并对不满足生产要求的模组进行故障检测,方便生产人员对模组的修复。

本实用新型的技术方案为:本实用新型揭示了一种LED静态模组测试卡,该测试卡包括:

微处理单元,控制对待测LED静态模组的测试动作;

输入设备,连接该微处理单元,实现对待测LED静态模组的测试操作;

输出端口,连接该微处理单元,且连接待测LED静态模组,输出测试信号至待测LED静态模组。

根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例,该微处理单元是AVR单片机。

根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例,该输入设备是按键和/或拨码开关。

根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例,该输出端口是Hub板连接端口和/或模组连接端口,该Hub板连接端口通过一Hub板连接待测LED静态模组,该模组连接端口通过接口线缆直接连接待测LED静态模组。

根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例,该测试卡还包括一电源。

根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例,该测试卡还包括通信端口。

根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例,该通信端口是RS232通信端口。

根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例,该微处理单元进一步包括以下的任意一种组合:

逐点测试单元,通过对待测LED静态模组上的LED灯逐个点亮的方式对待测LED灯的走线方式进行检测;

走线方式配置单元,配置待测LED静态模组的走线方式;

显示方式配置单元,配置待测LED静态模组的显示方式;

颜色配置单元,配置待测LED静态模组的颜色配置方式;

亮度调节单元,通过调节待测LED静态模组上驱动芯片的电流增益来调节LED灯的亮度。

根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例,该显示方式配置单元进一步包括以下的任意一种组合:

走斜线测试单元,让待测LED静态模组走动条纹状的斜线以测试有无焊点相连的情况发生;

全亮测试单元,点亮待测LED静态模组上的全部LED灯以测试有无暗点;

全暗测试单元,让待测LED静态模组上的LED灯在保持通电的情况下全部熄灭以测试有无常亮点。

根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例,该显示方式配置单元还包括:

自动测试单元,使待测LED静态模组循环实行该走斜线测试单元、该全亮测试单元以及该全暗测试单元的实现方式,以检测该LED静态模组是否发生老化。

本实用新型对比现有技术有如下的有益效果:本实用新型的LED静态模组测试卡以拨码开关作为输入设备,采用模组端口直连和HUB板转接作为输出,对所要测试的LED模组进行走线方式调节、颜色调节、8级亮度电流增益调节等,对模组的接入极为方便。端口可以拖动200块以上的模组,并且具备手动和自动切换的功能,从而使LED模组的测试、老化变得简单方便。测试卡基于AVR单片机Atmega16设计开发,具有操作简单、性能优越、价格低廉的特点,是对LED行业中静态模组的检测、老化的一次革命。对比现有技术,本实用新型的测试卡的优点包括:

(1)集多种调试手段于一体,既可走斜线、全亮,也可调整驱动芯片的电流增益。

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