[实用新型]一种微弱应力检测装置

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及检测技术领域，特别涉及一种微弱应力检测装置。

【背景技术】

目前，公知光学样件应力检测普遍采用偏光计，或偏光计加摄像头进行应力分析。偏光计一般采用白光光源，应用色偏振原理观测样件的不同颜色来区分应力的大小。由于色偏振方法颜色的取值为近似值，所以应力的大小值也为近似值。同时，偏光计采用的光学镜片较多，消除系统本身的色差带来的影响比较困难。另外，偏光计整个系统的体积较大，移动及携带不方便，对样件的定位检测不够灵活。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是提供一种微弱应力检测装置，已解决上述技术问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种微弱应力检测装置，包括：线偏振激光器、孔径光阑、位移台、1/4玻片、检偏器、光电接收器和数字显示系统；所述孔径光阑、1/4玻片、检偏器位于线偏振激光器发出的线偏振光的光轴上，所述检偏器依次连接所述光电接收器和数字显示系统。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

1、线偏振激光器产生高度稳定的线偏振光，保证整个测试的精度；

2、孔径光阑可以灵活的调整光束半径，可以对样品局部细微应力进行检测；

3、三轴位移台可以使样品上下、左右移动，进行样品不同部位的应力检测。

【附图说明】

图1是本实用新型的结构原理图。

其中：1为线偏振激光器；2为孔径光阑；3为被测样品；4为位移台；5为1/4玻片；6为检偏器；7为光电接收器；8为数字显示系统。

【具体实施方式】

下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述。

请参阅图1所示，线偏振激光器1产生高度稳定的线偏振光，保证整个测试的精度；孔径光阑2可以灵活的调整光束半径，以对局部细微应力进行检测；三轴位移台4可以使样品3上下、左右移动，进行样品3不同部位的应力检测；1/4玻片5使应力造成的椭圆偏振光再次转化为线偏振光，但偏振方向会旋转一定的角度；检偏器6的检偏方向与激光源的偏振方向垂直，如果所测样品无应力，直接得到最小光强值；如果样品存在应力，需旋过一定角度才能获得光强最小值，旋过的角度可以表征应力的大小；光电探测系统7可以记录偏振方向旋过的角度，数显系统8将角度值进行处理后，可以将所测应力值显示。

本实用新型采用高度线偏振的激光光源(可加起偏器)，使激光透过检测样品。由于应力双折射效应，线偏振光将变为椭圆偏振光，椭圆偏振光经1/4玻片，再次转化为线偏振光。此时，线偏振光的偏振方向与原偏振光的偏振方向将形成一个角度，角度的大小反映样品应力的大小。后级通过一个检偏器与光电探测系统连接，检偏器的初始偏振方向与激光源的偏振方向相互垂直，检偏器可自动旋转，旋转过程通过光电探测系统可以将光强最小值，及对应的旋转角度进行记录，再通过数字系统的计算最后可将应力值直接显示。如果采用632.8nm波长的光为线偏振光源，以探测器的探测精度为0.1°计算，测试光程的灵敏度为0.3nm，超过目前一个量级，而且激光器端口加入孔径光阑后，还可以通过控制光束的大小检测局部应力的大小。从而，达到快捷准确的定位测试应力的目的。