[实用新型]芯片上锡装置无效

专利信息
申请号: 201020619632.3 申请日: 2010-11-23
公开(公告)号: CN201985082U 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 李小东;明正东 申请(专利权)人: 东莞桥头技研新阳电器厂
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;B23K3/08;H05K13/04
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 张艳美;郝传鑫
地址: 523533 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 芯片 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及表面贴装技术领域,更具体地涉及一种芯片上锡装置。

背景技术

20世纪90年代随着集成技术的进步、设备的改进和深亚微米技术的使用,大规模集成电路、超大规模集成电路、极大规模集成电路相继出现,硅单芯片集成度不断提高,对集成电路封装要求更加严格,I/O引脚数急剧增加,功耗也随之增大。为满足发展的需要,在原有封装品种基础上,又增添了球栅阵列封装,简称BGA(Ball Grid Array Package)。20世纪90年代随着技术的进步,芯片集成度不断提高,I/O引脚数急剧增加,功耗也随之增大,对集成电路封装的要求也更加严格。为了满足发展的需要,BGA封装开始被应用于生产。BGA是英文Ball Grid Array Package的缩写,即球栅阵列封装。采用BGA技术封装的内存,可以使内存在体积不变的情况下内存容量提高两到三倍,BGA具有更小的体积,更好的散热性能和电性能。BGA封装技术使每平方英寸的存储量有了很大提升,采用BGA封装技术的内存产品在相同容量下,比其他封装方式的芯片具有更加小的体积,另外,与传统封装方式相比,BGA封装方式有更加快速和有效的散热途径。BGA封装的I/O端子以圆形或柱状焊点按阵列形式分布在封装下面,BGA技术的优点是I/O引脚数虽然增加了,但引脚间距并没有减小反而增加了,从而提高了组装成品率;虽然它的功耗增加,但BGA能用可控塌陷芯片法焊接,从而可以改善它的电热性能;厚度和重量都较以前的封装技术有所减少;寄生参数减小,信号传输延迟小,使用频率大大提高;组装可用共面焊接,可靠性高。

在生产和调试过程中,难免会因为BGA损坏或者其他原因更换BGA。BGA返修工作站同样可以完成拆卸BGA的工作。拆卸BGA可以看作是焊接BGA的逆向过程。所不同的是,待温度曲线完毕后,要用真空吸笔将BGA吸走,之所以不用其他工具,比如镊子,是因为要避免因为用力过大损坏焊盘。将取下BGA的PCB趁热进行除锡操作,为什么要趁热进行操作呢?因为热的PCB相当与预热的功能,可以保证除锡的工作更加容易。然后进行焊接新的BGA。在现有技术领域,焊接新的BGA有一个关键的步骤是植球,植球的目的就是将锡球重新植在BGA的焊盘上,可以达到和新BGA同样的排列效果,返修的PCB往往不是极少数。现在的电路板集成度高,周边的零件相隔太近,在成品电路板上印刷锡膏非常因难,且修理时对产品局部损害较大。

因此亟需一种能够降低修理难度和修理成本、解决在返修电路板上印刷锡膏难、降低修理对产品局部损害度的芯片上锡装置。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种能够降低修理难度和修理成本、解决在返修电路板上印刷锡膏难、降低修理对产品局部损害度的芯片上锡装置。

为了实现上述目的,本实用新型一种芯片上锡装置,用于对芯片在印刷锡膏时进行固定,其包括支撑板,所述支撑板的正面开设有若干芯片容置槽,所述支撑板的背面正对所述芯片容置槽处凹陷形成刷锡槽,所述芯片容置槽的槽底开设有引脚孔,所述引脚孔贯穿所述支撑板刷锡槽和所述芯片容置槽,且与所容芯片的引脚相对应。

较佳地,所述芯片容置槽内凸设有凸条。设置所述凸条能够方便将芯片从所述芯片容置槽内夹取出。

与现有技术相比,本实用新型芯片上锡装置中,所述支撑板的正面开设有若干芯片容置槽,所述支撑板的背面正对所述芯片容置槽处凹陷形成刷锡槽,所述芯片容置槽的槽底开设有引脚孔,所述引脚孔贯穿所述支撑板刷锡槽和所述芯片容置槽,且与所容芯片的引脚相对应。因此,只需在所述芯片容置槽中放入新芯片,新的芯片的引脚伸入所述引脚孔至所述支撑板的背面,只需在所 述支撑板的背面刷上锡膏,然后将新芯片取出,锡膏将自动的留在新芯片的引脚上,轻松的完成了新芯片的刷锡工艺。因此,降低了集成电路板的修理难度和修理成本,解决了在返修电路板上印刷锡膏难、降低修理对产品局部损害度。

通过以下的描述并结合附图,本实用新型将变得更加清晰,这些附图用于解释本实用新型的实施例。

附图说明

图1为本实用新型印刷锡膏治具的一个实施例的结构示意图。

图2为本实用新型印刷锡膏治具置入有新芯片的结构示意图。

图3为图1所示的印刷锡膏治具的另一个角度的视图。

图4为图1所示的芯片上锡装置A部分的放大视图。

图5为图3所示的芯片上锡装置B部分的放大视图。

具体实施方式

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