[实用新型]一种测量固体液体的物质分析系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及光谱分析，特别涉及一种利用光谱分析样品(如液体和固体)的系统。

背景技术

近红外光(NIR)是一种波长在780～2526nm范围内的电磁波。目前，一种广泛使用的近红外分析系统包括光源、样品装置、探测器和分析系统。分析的基本原理是：近红外光源发出的连续光照射被测样品，样品分子选择性地吸收某些频率的光，根据样品物态和透光能力的强弱选择透射或反射的方式来测定，再通过分析检测到的光谱实现样品的定性定量检测。

近红外光谱的分析技术大体可分为两类：透射光谱法和反射光谱法。透射光谱法是把待测样品置于作用光与探测器之间，探测器所检测到的分析光是作用光通过样品体、与样品分子相互作用后的透射光，一般用于液体样品的测量。反射光谱法中，探测器检测到的分析光是光源发出的作用光投射到物体后，以各种方式反射回来的光，一般用于固体样品的测量。

现有的近红外分析系统具有以下不足：在进行不同形态样品检测时需要配备不同的样品装置。因此，样品装置经常需要更换，可靠性差，系统适用性差。

实用新型内容

为了解决现有技术中的上述不足，本实用新型提供了一种结构简单、适用范围广、可靠性高、成本低、方便携带的测量固体液体的物质分析系统。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种测量固体液体的物质分析系统，所述物质分析系统包括：

光源，发出参比光、用于测量待测液体的第一测量光和用于测量待测固体的第二测量光；

容器，用于在测量液体时盛装待测液体；

第一反射装置，用于分别反射所述参比光和第一测量光，所述第一反射装置设置在待测固体的一侧；所述第一测量光在被所述第一反射装置反射前或反射后穿过所述容器；

移动装置，用于在测量待测固体时移开所述第一反射装置，而使所述第二测量光照射到所述待测固体上；

探测器，用于分别接收所述参比光、穿过所述待测液体后的第一测量光和被所述待测固体反射后的第二测量光，并分别转换为参比信号、第一测量信号和第二测量信号；

分析单元，用于处理所述探测器传送来的所述参比信号、第一测量信号和第二测量信号，从而获知所述待测液体和待测固体的参数。

根据上述物质分析系统，所述分析单元内设置有近红外光谱分析模块。

根据上述物质分析系统，所述物质分析系统进一步包括：

第二反射装置，所述参比光、穿过所述容器后的第一测量光经所述第二反射装置反射后射向所述第一反射装置，所述第二测量光经所述第二反射装置反射后射向所述待测固体。

根据上述物质分析系统，所述第一反射装置采用参比板。

根据上述物质分析系统，所述参比光、第一测量光和第二测量光相同。

根据上述物质分析系统，所述光源为近红外光源。

根据上述物质分析系统，采用储能元件为所述光源、探测器和分析单元供电。

根据上述物质分析系统，所述储能元件为电池。

根据上述物质分析系统，所述储能元件还为所述移动装置供电。

与现有技术相比，本实用新型具有的有益效果为：

1、广泛的适用性，由于本实用新型是把液体装置和固体装置集成在一个样品装置内，可以测量固体和液体样品，适用性广。

2、系统成本低，本实用新型的一个样品装置可以测量液体和固体样品，避免测量不同形态样品配置不同样品装置的弊端，降低了成本。

3、结构简单、可靠性高，本实用新型无需配备多种样品装置，无需更换样品装置即可实现液体和固体样品的测量，系统可靠性高。

4、方便携带，体积小巧，采用储能元件供电，具备便携功能。

附图说明

参照附图，本实用新型的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的是：这些附图仅仅用于举例说明本实用新型的技术方案，而并非意在对本实用新型的保护范围构成限制。图中：

图1是根据本实用新型实施例1的物质分析系统的基本结构图；

图2是根据本实用新型实施例1的物质分析系统的在测量参比信号时基本结构图；

图3是根据本实用新型实施例1的物质分析系统在测量固体样品时的基本结构图；

图4是根据本实用新型实施例2的物质分析系统的基本结构图；

图5是根据本实用新型实施例3的物质分析系统的基本结构图；

图6是根据本实用新型实施例3的物质分析系统在测量参比信号时的基本结构图；

图7是根据本实用新型实施例3的物质分析系统在测量固体样品时的基本结构图。

具体实施方式