[实用新型]40路薄膜电容耐久性试验装置

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及薄膜电容产品的测试，尤其涉及40路薄膜电容耐久性试验装置。

【背景技术】

现有的薄膜电容的测试装置，对薄膜电容进行耐压测试时，大多每次只能测试1个薄膜电容，无论测试速度有多快，每次也只能检测1个薄膜电容，远不能满足实验需要，制约着薄膜电容大规模生产发展；若想同时检测更多的薄膜电容，就需要备用多台测试装置同时工作，这样就需增加设备的投入量，加大生产成本；为节约设备购置成本，提高薄膜电容的测试效率，迫切需要一种能够根据需要对多种不同容量、多个薄膜电容同时进行检测的试验装置。

【实用新型内容】

本实用新型提供一种控制方便，可靠性和稳定性高，能够根据同时测试薄膜电容的个数多少选择对应容量的电抗器档位，最多可以同时对40个薄膜电容进行检测的40路薄膜电容耐久性试验装置。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种40路薄膜电容耐久性试验装置，由外壳、控制面板、自耦调压器、升压调压器、多组容量可选择或组合的电抗器、电气控制系统、及对应设置的测试夹具和高温测试烘箱构成；所述升压调压器通过控制面板上的按钮控制调速电机M来自动调压；所述高温测试烘箱采用单独一个烘箱，对批量统一测试的所有薄膜电容集中烘烤，所述烘箱内的温度由电气控制系统中的温控器PT控制；所述电气控制系统由启动及升压器调速控制电路、10路电抗器控制电路、20路薄膜电容电流测试电路、温控电路和计时电路组成，所述20路薄膜电容电流测试电路的每路由电流互感器TA、小型断路器QF、双路选择开关和测试薄膜电容C组成，20路并联后连接在经升压调压器调压后的输出电源总线上；所述双路选择开关的每路设有测试端，分别连接测试夹具的插板测试端，每路插板测试端固定有测试薄膜电容C，且控制两路测试薄膜电容C通断的双路选择开关电路的两端并联有电容指示灯HL’；所述电流互感器TA的低压输出侧接入所述小型断路器QF的输出脚上；根据同时测试薄膜电容C的个数，在10路电抗器控制电路上选择对应容量的电抗器L档位，输出信号经驱动芯片处理后分别输出给20路小型断路器QF的输入端，20路小型断路器QF输出后每路分别通过双路选择开关分为2组对薄膜电容C进行控制，实现控制面板一个电流表最多可分别监控40个薄膜电容电流。

如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述启动及升压器调速控制电路由总电源、断路器QF22、按钮开关SB1、按钮开关SB2、按钮开关SB3、按钮开关SB4、交流接触器KM21、限位开关SQ1、限位开关SQ2组成，其中，按钮开关SB1、按钮开关SB2与交流接触器KM21的电磁线圈串联，交流接触器KM21的主触头与按钮开关SB1并联；按钮开关SB3与控制调速电机M正转的限位开关SQ1串联，按钮开关SB4与控制调速电机M反转的限位开关SQ2串联；按钮开关SB4与限位开关SQ2串联后，与串联的按钮开关SB3、限位开关SQ1并联后与调速电机M连连接，控制调速电机M的正反转；所述串联的按钮开关SB1、按钮开关SB2、交流接触器KM21的电磁线圈与控制调速电机M的正反转的电路并联后，通过断路器QF22控制与总电源的通断。

如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述10路电抗器控制电路的每路由按钮S、电抗器工作指示灯HL、交流接触器KM、多组不同容量电抗器L组成，每路由电抗器工作指示灯HL与交流接触器KM的电磁线圈并联后与按钮S串联，10路并联后通过断路器QF23控制与总电源的通断；所述多组不同容量电抗器分别与10路交流接触器KM的主、副触头串联连接，并与所述升压调压器调压后的输出电源连接。

如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述多组不同容量电抗器L由2组600μH、1组400μH、1组200μH、2组100μH、1组80μH、2组50μH、1组30μH的电抗器组成。

如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述温控电路和计时电路并联，所述温控电路的温控器与计时电路上计时器KT的电磁线圈并联；其中，计时器KT的常闭开关、温控器PT的长闭开关与设置的电流表切换开关SA1和交流接触器KM22的电磁线圈串联，并与并联的温控器和计时器KT的电磁线圈再次并联，也通过断路器QF23控制与总电源的通断；所述交流接触器KM22的副触头与升压调压器调压后的输出端电源连接。

如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述电流表切换开关SA1控制20路薄膜电容电流测试电路上的每路电流互感器TA。