[实用新型]一种氧自由基吸收能力测定分析仪中的光源系统有效
申请号: | 201020640316.4 | 申请日: | 2010-12-03 |
公开(公告)号: | CN201926624U | 公开(公告)日: | 2011-08-10 |
发明(设计)人: | 章蔚娟;胡裕杰;史国兴;邵卫樑 | 申请(专利权)人: | 上海智城分析仪器制造有限公司;上海交大昂立股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/01;F21V13/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 201400 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自由基 吸收 能力 测定 分析 中的 光源 系统 | ||
技术领域
本实用新型属于分析测定仪器领域中的抗氧化能力分析测定仪,特别是一种氧自由基吸收能力(ORAC)测定分析仪中光源系统的改进。
背景技术
氧自由基吸收能力(ORAC)测定分析仪在国内是首创研制,而国际现有技术同类仪器中所使用的光源系统是功率为50瓦的卤素灯,仪器在分析测定中所用的激发波长为485nm,发射波长为538nm。
由于该类仪器在使用过程中对温度恒定非常重要,要求温度稳定在37℃,其正负误差应尽可能的小,因温度系统的不稳定,对测定结果的变异系数有很大影响。最终会影响同一样品每次的分析测定结果。卤素灯其功率较大,自身会产生较大热量,致使仪器温度很高,即使用了散热片及风扇散热,由于卤素灯的自身大量不断产热,也较难散热,因此对仪器温控系统除考虑仪器环境恒定37℃外,还要考虑卤素灯自身会产生较大热量,很难使整个仪器环境保持在要求温度点尽可能小误差范围,一般温度范围是在±1.5—2.0℃。且ORAC测定分析时间较长,需30~60分钟。而卤素灯的光源不稳定,较长时间使用光能会逐渐衰减,很大程度影响测定分析结果。
美国农业部(该类仪器的权威及创始者)规定,作为ORAC分析测定结果可靠的数据的变异系数为≤15%,因此,现有仪器由于以卤素灯为基础的光源系统所带来的温度系统的不稳定和光源系统不稳定(衰减)将很难获得可靠的测定数据。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种氧自由基吸收能力(ORAC)测定分析仪中光源系统,主要解决现有仪器由于以卤素灯为基础的光源系统所带来的温度系统的不稳定和光源系统不稳定(衰减)将很难获得可靠的测定数据的技术问题,它还能显著降低能耗,节约能源以及延长使用寿命。
为实现上述目的,本实用新型是这样实现的。
一种氧自由基吸收能力测定分析仪中的光源系统,其特征在于它具半导体光源,半导体光源的发射光依次通过激发光会聚透镜L1、激发光干涉滤光片F1后形成波长485nm激发光λ1;所述的λ1通过反射镜M的反射后垂直入射测定管,测定管内样品被激发出荧光,该荧光通过接收光透镜L2、接收光干涉滤光片F2后形成波长538nm光束λ2,λ2到达光电倍增管阴极面,其荧光强度转换为电信号被检出。
所述的氧自由基吸收能力测定分析仪中的光源系统,其特征在于所述光源系统所用的半导体光源是功率在10mw以上的半导体激光器和1—5W的发光管,其电源是3V~12V的直流或85V~220V交流电源。
所述的氧自由基吸收能力测定分析仪中的光源系统,其特征在于所述光源系统所用的半导体光源是恒流供电的蓝光灯,其光源在485nm波长处具有强度高,能量随时间衰减小,聚光佳,散热效果好的灯结构特点。
所述的氧自由基吸收能力测定分析仪中的光源系统,其特征在于所述的光源系统还包括加热片PTC控温器。
本实用新型是将将现有技术光源系统为功率50W的卤素灯改为半导体光源的蓝光灯作为光源系统。半导体光源与卤素比较,本身几乎不产热(相对与卤素灯而言),显著降低能耗,节约能源以及延长使用寿命显著。
由于半导体光源本身几乎不发热(相对于仪器要求的使用温度),因此只要有一个稳定的环境温控系统,就能保持恒定的使用温度点,消除由于光源系统造成的温度升高而带来的不稳定因素。配合本仪器温控系统的改进,能使本仪器的温度稳定在±0.1℃。
半导体光源系统在仪器使用中与卤素灯在相同激发波长和发射波长的点和相同放大倍数时,具有几乎相同光能量(通过荧光值数据可见),且长时间使用光能量降低很少,在分析测定时间内(约1小时)其光能几乎不会降低,经试验测定,在数小时开机使用过程中,半导体光能量降低只有同样条件下使用卤素灯的50%。无需特别的光反馈控制电路。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
请参阅图1,本实用新型公开了一种氧自由基吸收能力测定分析仪中的光源系统。如图所示:它具有半导体光源1(蓝光灯),半导体光源1的发射光依次通过激发光会聚透镜L1、激发光干涉滤光片F1后形成波长485nm激发光λ1;所述的λ1通过反射镜M的反射后垂直入射测定管2,测定管2内样品被激发出荧光,该荧光通过接收光透镜L2、接收光干涉滤光片F2后形成波长538nm光束λ2,λ2到达光电倍增管阴极面,其荧光强度转换为电信号被检出。
所述的光源系统还包括加热片PTC控温器3。
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