[实用新型]半导体分立器件测试系统信号发生及采样处理装置无效

专利信息
申请号: 201020642963.9 申请日: 2010-12-01
公开(公告)号: CN201984137U 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 薛亮平;李耀武;杨炜光 申请(专利权)人: 西安谊邦电子科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710065 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 半导体 分立 器件 测试 系统 信号 发生 采样 处理 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体分立器测试系统信号发生及采样处理装置,包括有总线板(1),其特征在于,总线板(1)上连接有高低源板(2)、所有板开关(3)和继电器板(4),总线板(1)还通过模拟板(15)上的模数转换器(5)与IO口扩展芯片(6)的数据端口相连接,IO口扩展芯片(6)的数据端口连接有计数器(7),计数器(7)的输出端与存储器(8)的地址端口相连接,存储器(8)的数据端口与数模转换器(9)数据端口相连接,数模转换器(9)输出正弦波与总线板(1)的数据总线相连IO口扩展芯片(6)的数据端口与数模转换器(11)数据端,数模转换器(11)输出端与跟随器(12)的输入端相连,跟随器(12)的输出端与总线板(1)的数据总线相连,IO口扩展芯片(6)的数据端口还连接有总线收发器(13),总线收发器(13)接收CPU(14)发出的总线数据。

2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器测试系统信号发生及采样处理装置,其特征在于,所述的模数转换器(5)为16位的ADC。

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