[实用新型]放射型线状样品托的定位机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种承载测试用样品的装置，具体而言是一种放射型线状样品托的定位机构。

背景技术

X射线荧光光谱分析法具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末（需压制成块状）、液体、糊状物、油脂、薄膜等。利用 X射线荧光光谱技术分析样品具有很多优势，例如：只需少量或无需样品制备，快速无损分析，操作简单，可由生产人员操作，不会产生有害的化学物质。

但是，到目前为止，由于线状样品不易固定和成形，尚无针对线状样品（例如纺织物，医用缝合线等等）的应用。通常我们只能将线状样品团成一团放入X射线荧光光谱分析仪中进行测量，这就使得待测样品的状态处于一种不受控制的随机状态，从而导致测量重现性差，严重影响了测量的准确性。

因此，我们急需一种适合承载线状样品，且能够快速将线状样品在样品托上定位的样品托，来控制线性样品的状态，保证测量的重现性，使得X射线荧光光谱分析法能应用到线状样品的测量中。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决现有技术的不足，提供一种放射型线状样品托的定位机构。

为了解决实现上述目的，本实用新型的技术方案是这样的。

一种放射型线状样品托的定位机构，所述定位机构由4个U形槽构成，设于圆形样品托的外圆周上，所述第一U形槽与第二U形槽位于样品托上外圆周边缘，并处于同一直径方向上，所述第三U形槽与第四U形槽位于样品托下外圆周边缘，并处于同一直径方向上，且所述第一U形槽与第四U形槽、第二U形槽与第三U形槽分别位于上、下外圆周相同的位置；U形槽自圆周边缘凹向圆心。

本实用新型的积极效果是：能够将线状样品快速定位在放射型线状样品托上，缩短了线状样品的初始定位时间。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式来详细说明本实用新型。

图1为正视图。

图2为俯视图。

图3为立体结构示意图。

图中标号为：1—第一U形槽、2—第二U形槽、3—第三U形槽、4—第四U形槽、5—样品托上外圆周、6—样品托下外圆周。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。

一种放射型线状样品托的定位机构，如图1和图2所示，所述定位机构由4个U形槽构成，设于圆形样品托的外圆周上，所述第一U形槽1与第二U形槽2位于样品托上外圆周5边缘，并处于同一直径方向上，所述第三U形槽3与第四U形槽4位于样品托下外圆周6边缘，并处于同一直径方向上；U形槽自圆周边缘凹向圆心。

如图1和图3所示，所述第一U形槽1与第四U形槽4、第二U形槽2与第三U形槽3分别位于上、下外圆周相同的位置。

使用时，可以先将线状样品在放射型线状样品托的中间部分绕一圈并打结，完成线状样品的固定。固定之后，就可以开始绕线，绕线步骤为：将线状样品嵌入依次嵌入第一U形槽1、第二U形槽2、第三U形槽3和第四U形槽4，完成线状样品的初始定位。然后将线状样品嵌入与定位线相邻的凹槽和与此凹槽在直径方向上对应的凹槽以及另一端面上相对应的凹槽，完成一组绕线。以此类推，将线状样品按上述方法依次嵌入剩下的凹槽中，完成线状样品的绕线工作。在进行X射线荧光光谱分析时，只需将绕线完成的样品托放入仪器的样品盘中即可。

本实用新型的积极效果是：

1、被测线状样品处于定形、定量状态，提高了测量结果的重现性和准确性。

2、保持被测线状样品处于一定张力状态，利于二次X荧光信号的收集与测量，为测量样品中微量有害元素提供了基础。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。