[实用新型]无源RFID电子标签卡谐振频点测试装置有效

专利信息
申请号: 201020656144.X 申请日: 2010-12-08
公开(公告)号: CN202013379U 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 蔡凡弟;任金泉;孙洋 申请(专利权)人: 中山达华智能科技股份有限公司
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02;G06K7/00
代理公司: 广东中亿律师事务所 44277 代理人: 王向东
地址: 524815 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 无源 rfid 电子标签 谐振 测试 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种RFID电子标签卡谐振频点测试装置,特别是一种感应法测试无源RFID电子标签卡谐振频点的测试装置。

背景技术

随着无源RFID电子标签卡价格的持续下降及应用范围的不断拓展,RFID电子标签卡的应用与日俱增,几乎遍及每一个行业的每一个角落。当RFID电子标签卡接收到来自阅读器等终端设备的无线信号时,RFID电子标签卡对射频RF信号的能量进行整流,以生成保持RFID电子标签卡工作所需的电流能量,然后改变其天线的吸收特点并经过对RF信号调制后,再通过反向散射反射给阅读器等终端设备,由于RFID系统带宽的挑战性要求和最大化RF能量传输以向RFID电子标签卡供应能量等原因,对RFID电子标签卡的频率一致性要求就显得尤为重要。

目前,众多的RFID电子标签卡和标签卡阅读器等终端设备之间交换数据所引发的技术问题已日益凸显,越来越多的引起生产厂商的重视,对于那些专门从事RFID电子标签卡的生产封装厂商来讲,其在生产线终端以及质检的QC部门和QA部门等,必须要对RFID电子标签卡的频率进行大批量的检测,根据RFID电子标签卡自身所处的频段,按照ISO的严格标准要求,将不合格品检出,以保证RFID电子标签卡频率的一致性,从而提高电子标签卡的整体质量。

一直以来,国内从事RFID电子标签卡封装制作的众多企业,在对于RFID电子标签卡的频率测试方面,除了采用价格高达几十万元的进口仪器和配置并不到位的测量夹具在实验室分析测量外,在国内目前还无法采购到具有RFID电子标签卡频率测试功能的测试仪器,如何在现有技术条件下,准确、科学、合理的对RFID电子标签卡进行频率测试,是一个国内行业迫切需要解决的问题。

中国专利号为“200810060124.3”、公开号为“101241152”、名称为“一种检测无源RFID电子标签谐振频率的装置”的专利公开了一种无源RFID电子标签卡谐振频率的检测装置,该专利技术采用的技术方案是:在圆筒体的中心放置了圆柱体搁台,搁台的最高端在两组漆包导线的中心位置,圆筒体上安装有支撑凸块,支撑凸块上安装有变压器铁心、变压器两个线圈、调谐电容、BNC接头,该专利技术的检测装置结构复杂,生产制作工艺繁琐,特别是测试RFID电子标签卡的工序较为麻烦,不能满足RFID电子标签卡生产封装厂商在生产线上大批量对RFID电子标签卡进行频率检测的要求。

实用新型内容

为了克服国内市场现阶段在RFID电子标签卡频率测试仪器方面的匮乏,以及在国际市场上该类型测试仪器价格高昂、夹具配置不合理等不利因素和测试繁琐等的不足,本实用新型提供一种结构简单,制作容易,频率测试简便,能满足批量生产企业要求的无源RFID电子标签卡谐振频点测试装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:

本无源RFID电子标签卡谐振频点测试装置包括壳体,所述壳体内封装有增益匹配网络、与所述增益匹配网络的输出端电连接的载波检波电路和与所述载波检波电路的输出端电连接的谐振电路,所述壳体的顶部设置有测试平台,所述壳体设置有信号源输入端子和信号源输出端子分别与所述增益匹配网络的信号输入端和谐振电路的信号输出端电连接。

作为本实用新型的进一步改进,所述增益匹配网络包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第一电容,所述第一电阻、第二电阻、第三电阻依次串接后,第一电阻的另一端接系统地线;所述第一电容的一端接第二电阻和第三电阻的节点,另一端接系统地线;所述第一电阻和第二电阻的节点与所述信号源输入端子电连接。

所述载波检波电路包括检波二极管和第四电阻,所述检波二极管的负极与所述第四电阻的一端连接,所述第四电阻的另一端接系统地线,所述检波二极管的正极与所述第三电阻的另一端连接。

所述谐振电路包括测试线圈和谐振电容,所述测试线圈和谐振电容并联后一端接所述检波二极管的负极与第四电阻的节点,另一端与所述信号源输出端子电连接。

所述测试线圈并联有一阻尼电阻。

本实用新型的有益效果是:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山达华智能科技股份有限公司,未经中山达华智能科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201020656144.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top