[实用新型]铝电解电容器套管机的短路测试装置有效

专利信息
申请号: 201020657536.8 申请日: 2010-12-14
公开(公告)号: CN201917629U 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 龙纪明;黄第慧 申请(专利权)人: 珠海华冠电容器有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 广州市红荔专利代理有限公司 44214 代理人: 王贤义
地址: 519080 广东省珠海市唐家大*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 铝电解电容器 套管 短路 测试 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种铝电解电容器套管机的短路测试装置。

背景技术

随着社会的发展和科技的不断进步,近年来,由于世界上电子整机行业如计算机的高速增长,以及传统产业如彩电行业也保持稳定增长,市场上对铝电解电容器的需求也越来越大,为了满足各企业产能的需要,许多大型企业均将电容器的制造实现自动化以提高生产效率,单个步骤进行或多个步骤同时进行,这样的机器包括自动卷绕机、自动钉卷机、全自动真空含浸组立机、全自动组立机、全自动套管机等,而由于铝电解电容器在裁切、卷绕时会产生较多的箔灰,容易刺破电解纸而产生产品短路,短路的产品若不及时剔除,将会流入下道工序浪费材料及人工,而且在老化时可能造成其他产品充电不完全导致产品批量降级或报废,这就给商家带来了一定的不便。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种能测试短路产品,避免短路产品流入下道工序可能造成其他产品充电不完全、导致产品批量降级或报废从而节约生产成本的铝电解电容器套管机的短路测试装置。

本实用新型所采用的技术方案是:所述短路测试装置包括导电片、与所述导电片电连接的测试板、设置所述导电片的测试架及设置于套管机基座上的导针夹,所述导针夹可与装夹在套管机转盘上的裸品电容的两针脚相接触,所述导电片位于所述导针夹的上方可与所述裸品电容的铝壳相接触,所述测试板与套管机PLC电连接,所述套管机PLC与所述导针夹电连接。

所述短路测试装置还导电片调节装置,所述测试架设置在所述导电片调节装置上,所述导电片调节装置可调节所述测试架的高度位置。

本实用新型的有益效果是:由于本实用新型包括所述短路测试装置包括导电片、与所述导电片电连接的测试板、设置所述导电片的测试架及设置于套管机基座上的导针夹,所述导针夹可与装夹在套管机转盘上的裸品电容的两针脚相接触,所述导电片位于所述导针夹的上方可与所述裸品电容的铝壳相接触,所述测试板与套管机PLC电连接,所述套管机PLC与所述导针夹电连接,当套管机转盘上的裸品电容转动到所述导电片和所述导针夹的位置时,所述导针夹与裸品电容的两针脚相接触,所述导电片与裸品电容的铝壳相接触,所述导电片、所述测试板、所述套管机PLC、所述导针夹与所述裸品电容形成一个控制回路,所述套管机PLC测试到回路导通时,则产生一个排除信号,及时剔除短路产品,不需套管后流入下道工序,所以本实用新型能测试短路产品、避免短路产品流入下道工序从而节约生产成本、避免可能造成其他产品充电不完全导致产品批量降级或报废。

附图说明

图1是本实用新型实施在套管机上的部分结构示意图。

具体实施方式

如图1所示,本实用新型具体实施在铝电解电容器套管机,铝电解电容器套管机在转动盘的侧方设置短路测试装置,所述短路测试装置包括导电片1、测试板2、测试架3、导针夹4,所述导电片1设置在所述测试架3上并与所述测试板2线连接,或者是所述导电片1设置在所述测试架3上并与所述测试架3线连接,然后所述测试架3与所述测试板2电连接,所述导针夹4设置在套管机基座上,所述导针夹4可与装夹在套管机转盘上的裸品电容的两针脚相接触,所述导电片1位于所述导针夹4的上方可与所述裸品电容的铝壳相接触,所述测试板2引出电源线与套管机PLC7电连接,所述套管机PLC7引出电源线与所述导针夹4电连接。

套管机的料盒向套管机转盘送料,所述套管机转盘夹持的裸品电容5转动,所述裸品电容5是指组立机组立后未套管前的铝电解电容器,所述裸品电容5转至所述导电片1和所述导针夹4的位置时,所述导电片1与所述裸品电容5的铝壳相接触,所述导针夹4夹住所述裸品电容5的两针脚,所述导电片1、所述测试板2、所述测试架3、所述套管机PLC7、所述导针夹4能与所述裸品电容5形成一个回路,若所述裸品电容5为短路产品,则该回路导通,所述套管机PLC7产生一个排除信号,及时剔除短路产品,防止其流入下道工序。

另外,为了保证测试的可靠性,所述短路测试装置还可以设置导电片调节装置8,所述导电片调节装置8设置在套管机基座上,所述导电片调节装置8与所述套管机PLC7电连接,将所述导电片1和所述测试架3设置在导电片调节装置8上,所述导电片调节装置8调节所述导电片1高度,防止所述导电片1与所述裸品电容5接触不到位而影响测试的正确性。

发明可广泛应用于电容器制造领域。

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