[实用新型]落射式微分干涉相衬显微镜无效

专利信息
申请号: 201020677533.0 申请日: 2010-12-22
公开(公告)号: CN201909886U 公开(公告)日: 2011-07-27
发明(设计)人: 李弥高;黄文勇;黄秋翼;胡丽娟 申请(专利权)人: 广州粤显光学仪器有限责任公司
主分类号: G02B21/14 分类号: G02B21/14;G02B21/18
代理公司: 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 代理人: 王振英
地址: 510095 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 式微 干涉 显微镜
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于显微镜技术领域,具体的说,涉及一种落射式微分干涉相衬显微镜,其使观察到的显微图像具有明显的衬度对比,呈现立体感较强的图像,以提高显微观察的分辨力。

背景技术

微分干涉相衬显微技术是Nomarski(诺马斯基)于1952年在相衬显微观察技术的基础上提出的,采用的是透射式显微观察系统,包括了起偏振器(Polarizer)、DIC棱镜、DIC滑行器与检偏器(Analyzer)四个关键光学组件。中国科学院上海光学精密机械研究所徐毓光等科技工作者开展了关于微分干涉相衬显微镜的技术研究,并于1985年7月向国家知识产权局申请了微分干涉相衬显微镜专利,专利号为CN85105355,在其专利摘要与主权项中描述:其特征在于利用简易的光学玻璃三平面环路干涉系统实现干涉相衬,所说光学玻璃三平面环路干涉系统是由两个全反射平面和一个半透半反平面组成。落射式微分干涉相衬显微镜是在落射偏振观察系统中,引入微分干涉相衬(DIC)棱镜组件,只需要起偏振器、DIC棱镜、检偏器三个关键光学组件,可以实现偏振光分束与复合,从而实现干涉显微图像观察。现有落射式微分干涉相衬显微镜是在偏振观察系统中,加裁微分干涉相衬棱镜装置,照明与成像系统共用同一个DIC棱镜,但由于棱镜相干平面与物镜的后焦面要求基本一致,对不同倍率的物镜设计提出了新的要求,需配置专用微分干涉相衬观察用物镜,使得显微镜的结构复杂,同时DIC棱镜的设计、加工与检测相对复杂。

发明内容

本实用新型克服了现有技术中的缺点,提供了一种落射式微分干涉相衬显微镜,其在落射偏振观察系统中设计微分干涉相衬观察适应的诺马斯基棱镜(DIC棱镜)组件,同时选择后焦面相近的成像物镜,通过对DIC棱镜安装高度与角度的调整,以满足DIC棱镜相干平面与物镜后焦面重合的要求。

为了解决上述技术问题,本实用新型是通过以下技术方案实现的:

一种落射式微分干涉相衬显微镜,包括观察镜,落射照明器以及微分干涉相衬组件,所述微分干涉相衬组件包括微分干涉棱镜、用于调节微分干涉棱镜前后移动的调节杆以及调节微分干涉棱镜上下高度的调节螺钉。

进一步,所述观察镜为双目观察镜,为铰链式结构。

进一步,所述落射照明器包括顺序设置的灯箱、滤色片切换装置、孔径光阑、视场光阑、起偏器、检偏器以及透、反射切换观察装置。

进一步,所述灯箱后盖板采用翻转式铰链结构。

进一步,所述滤色片切换装置、孔径光阑、视场光阑均为拨轮转盘式结构。

进一步,还包括阿贝聚光镜组,该阿贝聚光镜组加载孔径光阑。

进一步,还包括集光器,该集光器内部设有视场光阑。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

本实用新型所述的落射式微分干涉相衬显微镜具备明视场正置观察、偏振观察的功能,还可进行微分干涉相衬观察,结构简单,操作方便,可以得到视场均匀、衬度明显的显微图像,可应用于现代电子工业、材料科学研究与制造等领域,实现无损光学检测的要求。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

图1是本实用新型的立体结构图;

图2是落射照明器的剖视图;

图3是微分干涉相衬组件的剖视图;

图4是载物平台的结构示意图;

图5是粗微动调焦装置示意图;

图6阿贝聚光镜组示意图;

图7集光器示意图;

图8是本实用新型的左视图;

图9是本实用新型的右视图;

图10是本实用新型的后视图。

具体实施方式

如图1所述,本实用新型所述的落射式微分干涉相衬显微镜,包括双目观察镜1、摄影摄像输出端口2、落射照明器3、转换器4、落射式微分干涉相衬组件5、物镜6、载物平台7、粗微动调焦机构8、阿贝聚光镜组9以及集光器10。

其中,双目观察镜1采用铰链式结构,配置广角平场目镜,单边视度可在-5~+5个视度范围内调节,目镜瞳距可在53mm~75mm之间任意调节,目镜筒倾斜角度为30度,可适配视场数不超过Φ22mm的目镜。

摄影摄像输出端口2是用于显微镜图像采集时的光学输出端,配合专用的摄影卡口或适配器,可以连接CCD摄像仪、数码相机或数码单反相机、普通相机。摄影摄像系统采用100%通光,可通过本装置所设置的切换拉杆进行目视观察与摄影操作。

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