[实用新型]用于快速实时测量点剂量的探测验证的数字图像探测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及肿瘤放射治疗中用于快速实时的点剂量探测验证的数字图像探测装置，可探测X射线并生成数字图像，用于患者体位验证；探测MV级X射线，获取数字图像，探测点剂量，用于剂量分布验证。

背景技术

直接数字化放射摄影(Digital Radiography，简称DR)，是上世纪九十年代发展起来的X线摄影新技术，具有更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等显著优点，成为数字X线摄影技术的主导方向，并得到世界各国的临床机构和影像学专家认可。近年来随着技术及设备的日益成熟，DR在世界范围内得以迅速推广和普及应用，逐渐成为医院的必备设备之一。

DR主要由X-线发生器(球管)、探测器(影像板/采样器)、采集工作站(采像处理计算机/后处理工作站)、机械装置等四部分组成；DR之所以称为“直接数字化放射摄影”的实质就是不用中间介质直接拍出数字X-光像。

目前在医疗领域中，主要有两种数字平板探测器，非晶硅(a-Si)和非晶硒(a-Se)平板探测器。表面上，这两种的平板都是以同样的运行方式：通过面板将提取X射线转化成为数字图像。面板无需像胶片一样进行处理，可以以几秒钟一幅图像的速度到进行数据采集，也可以以每秒30幅图像的速度进行实况采集。另外，由于它们的精度高和视域宽，平板以每秒30幅的速度显示图像，替代图像增强器，是比较理想的。

这两种数字平板探测器分别涉及两种平板探测技术-间接能量转换和直接能量转换。

间接FPD的结构主要是由闪烁体或荧光体层加具有光电二极管作用的非晶硅层(amorphous silicon)再加TFT阵列构成，其原理为闪烁体或荧光体层经X射线曝光后，将X射线光子转换为可见光，而后由具有光电二极管作用的非晶硅层变为图像电信号，最后获得数字图像。

直接FPD结构主要是由非晶硒层(amorphous selenium)加薄膜半导体阵列(Thin Film Transistor array，TFT)构成的平板检测器。由于非晶硒是一种光电导材料，因此经X射线曝光后直接形成电子-空穴对，产生电信号，通过TFT检测阵列，再经A/D转换获得数字化图像。

在剂量监测领域，主要有两类探测器：1)电离室探测器(IonizationChamber)是一种探测电离辐射的气体探测器，精度较高；2)半导体剂量探头(semiconductor detector)是以半导体材料为探测介质的辐射探测器。最通用的半导体材料是锗和硅，其基本原理与气体电离室相类似，故又称固体电离室；半导体剂量探头相比电离室探测器体积要小得多。

目前在医疗临床中，对于KV级的X射线成像，数字探测平板主要用于EPID(Electronic Portal Imaging Device，电子射野影像装置)和ConeBeam(基于大面积非晶硅数字化X射线探测板的锥形束CT)功能；而对于MV级成像，数字探测平板主要用于EPID功能；最终为了实现IGRT(Image Guide Radiation Therapy，图像引导放射治疗)功能。

无论是用于KV级还是MV级成像，得到的图像相当于一张无需冲洗的数字“胶片”，图像中除了记录相关的患者信息，更多记录了图像本身的灰度信息，并通过灰度值与CT值、灰度值与剂量值之间的对应关系(不同的灰度值对应不同的CT值或剂量值)，使医生或物理师可获取所需的数据信息，用于放射治疗中的定位和验证。

但对于目前的探测平板，在用于MV级剂量监测的领域中时，由于目前技术发展的限制，在图像分辨率、信噪比和成像剂量上较之KV级成像效果较差，对于剂量的检测精确度不够高。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术存在的不足，提供一种肿瘤放射治疗中用于快速实时的点剂量探测验证的数字图像探测装置。

本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：

用于快速实时测量点剂量的探测验证的数字图像探测装置，包括壳体和数字平板探测器，所述数字平板探测器封装于壳体中，特点是：所述数字平板探测器的中间区域设置有至少一只以上的电离室探测器或半导体剂量探头。

进一步地，上述的用于快速实时测量点剂量的探测验证的数字图像探测装置，其中，所述数字平板探测器的四周部位分别设置有至少一只以上的半导体剂量探头或电离室探测器。

更进一步地，上述的用于快速实时测量点剂量的探测验证的数字图像探测装置，其中，所述半导体剂量探头通过螺钉连接或胶粘剂粘接固定于数字平板探测器上。