[实用新型]一种探针框架

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶显示器领域，尤其涉及一种探针框架。

背景技术

薄膜晶体管(TFT，Thin Film Transistor)液晶面板由阵列基板，彩膜基板以及位于这两个基板中间的液晶组成。在制造液晶面板的过程中，形成有阵列的玻璃基板和形成有彩膜的玻璃基板经过对盒工序后，再经过切割工序，得到若干个液晶面板。形成阵列基板后，需要对阵列基板上的TFT的特性进行相关测试，以获得TFT的特性参数及技术数据，对TFT液晶面板进行设计验证和质量验证，并为查找不良原因、优化阵列基板的设计和印刷电路板(PCB)信号设计提供参考和数据支持。

以19宽英寸液晶面板为例，如图1和图2所示，固定尺寸的玻璃基板对应制造12张液晶面板，各面板边缘均印制有长方形金属薄膜块，长方形金属薄膜块通过印制在面板边缘的金属引线与面板内部的信号线相连。进行测试时，将形成有阵列的固定尺寸的玻璃基板放置于探针框架下，其中，探针框架为一个设置有探针的框架，相当于信号源与面板之间的导线，探针框架上设置的探针将与位于玻璃基板边缘的金属薄膜块相接触，即图1中的虚线框II内的金属薄膜块，从而为待测试的面板施加测试信号。

由于进行测试时，仅使用玻璃基板边缘的金属薄膜块，而一张玻璃基板分布有多个面板，因此就会导致面板之间的信号引线长度不同，而造成测试误差，降低了测试结果的准确性。举例说明，如图2所示，面板A位于玻璃基板边缘，面板B位于玻璃基板的内部，信号源通过面板A上方的金属薄膜块分别为面板A和面板B施加测试信号，因此，相对于面板A，面板B的测试信号所经过的金属引线将较长，它的输入电阻就会大一些。金属引线存在的差异，导致面板A和面板B的输入电阻发生变化，这样面板A和面板B的测试结果将存在差异，影响了测试结果的准确性。

实用新型内容

本实用新型实施例的主要目的在于，提供一种探针框架，能够有效减小测试误差，提高测试结果的准确性。

为达到上述目的，本实用新型的实施例采用如下技术方案：

一种探针框架，包括框架，所述框架上设置有至少一个探针，其中，所述探针中的至少一个探针连接有用于调节输入电阻的电阻补偿装置，使用时，连接有所述电阻补偿装置的探针通过所述电阻补偿装置与信号源相连接。

采用上述技术方案后，本实用新型实施例提供的探针框架，对不同的产品进行测试，能够通过电阻补偿装置对输入电阻进行补偿，以保证输入电阻的统一，因此，能够有效减小测试误差，提高测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中19宽英寸液晶面板的形成阵列的玻璃基板的结构示意图；

图2为图1中虚线框I内结构的放大示意图；

图3为本实用新型实施例的探针框架的结构示意图；

图4为图1中虚线框I内结构的放大示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图3所示，本实施例提供的探针框架，包括框架10，框架10上设置有至少一个探针20，所有探针20中的至少一个探针20连接有电阻补偿装置30，具体的，探针框架上的每一个探针20均连接有电阻补偿装置30，或者，探针框架上的部分探针20连接有电阻补偿装置30，探针20和电阻补偿装置30通过引线相连接(图中未显示)；

其中，电阻补偿装置30用于调节输入电阻，本实施例的探针框架使用时，连接有电阻补偿装置30的探针20通过电阻补偿装置30与提供信号的信号源相连接。

本实施例中，如图3所示，电阻补偿装置30设置在探针框架的边缘区域的支撑架31上，当然，也可以设置在探针20的上方区域等其他区域，本实施例对此不做限定；