[实用新型]阵列基板及液晶显示器有效
申请号: | 201020681700.9 | 申请日: | 2010-12-16 |
公开(公告)号: | CN202009000U | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 刘翔;薛建设;刘圣烈 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;G02F1/1362 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 液晶显示器 | ||
1.一种阵列基板,包括衬底基板,所述衬底基板上形成有导电图案和绝缘层,其特征在于,所述绝缘层至少包括:
像素薄膜缓冲层,形成于像素电极和与所述像素电极相邻的导电图案之间。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述导电图案和绝缘层还包括:所述像素电极与栅线和栅电极;
所述像素薄膜缓冲层,形成于所述像素电极与所述栅线和栅电极之间。
3.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于:
所述像素电极,形成在所述衬底基板上;
所述栅线和栅电极,形成在所述像素薄膜缓冲层上;
所述像素电极、所述像素薄膜缓冲层与所述栅线和栅电极一次成型。
4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述导电图案和绝缘层还包括:
栅绝缘层,形成在所述栅线和栅电极上方且覆盖所述衬底基板;
第一接触过孔,形成于所述像素薄膜缓冲层和所述栅绝缘层上,且贯穿所述像素薄膜缓冲层和所述栅绝缘层;
数据线,形成在所述栅绝缘层上;
源电极和漏电极,形成在所述栅绝缘层上,所述漏电极通过所述第一接触过孔与所述像素电极连接;
有源层,形成于所述源电极和漏电极之上,并与所述源电极和漏电极连接;
钝化层,形成在所述有源层、所述源电极和漏电极上方且覆盖所述衬底基板。
5.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述导电图案和绝缘层还包括:所述像素电极与漏电极;
所述像素薄膜缓冲层,形成于所述像素电极与所述漏电极之间,且所述像素薄膜缓冲层上形成有第二接触过孔;所述漏电极通过所述第二接触过孔与所述像素电极连接。
6.根据权利要求5所述的阵列基板,其特征在于:
所述漏电极,形成于所述像素薄膜缓冲层上方;
所述像素薄膜缓冲层,形成于所述像素电极上方;
所述像素电极、所述像素薄膜缓冲层和所述第二接触过孔一次成型。
7.根据权利要求6所述的阵列基板,其特征在于,所述导电图案和绝缘层还包括:
栅线和栅电极,形成在所述衬底基板上;
栅绝缘层,形成于所述栅线和栅电极之上;
有源层,形成于源电极和所述漏电极之上,并与所述源电极和所述漏电极连接;
钝化层,形成于所述有源层、所述源电极和所述漏电极上且覆盖所述衬底基板;
所述像素电极形成在所述栅绝缘层上。
8.根据权利要求1-7任一项所述的阵列基板,其特征在于,所述像素薄膜缓冲层为厚度为1000~ 4000 ?的无机绝缘层。
9.根据权利要求1-7任一项所述的阵列基板,其特征在于,所述像素薄膜缓冲层为厚度为1500~ 5000 ?的有机绝缘层。
10.一种包括权利要求1-9任一项所述的阵列基板的液晶显示器。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的