[实用新型]新型二极管一贯机无效
申请号: | 201020686697.X | 申请日: | 2010-12-29 |
公开(公告)号: | CN202094094U | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
发明(设计)人: | 刘伟 | 申请(专利权)人: | 常州星海电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;G01N21/88 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 何学成 |
地址: | 213022 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 新型 二极管 一贯 | ||
技术领域
本实用新型属于轴向二极管的生产设备领域,特别涉及一种新型的具有图像视觉检测功能的二极管一贯机。
背景技术
轴向类电子封装器件在常规的工艺生产过程中往往由于不同种热膨胀系数材料的混合使用和模压工序中部分模具的老化,在现有工艺条件的控制下还是有万分之一概率的材料在模压工序后外观上存在着不同程度的塑孔,压引线等外观缺陷。元器件的成品外观检验是对半导体器件封装工艺进行可靠性评价的基本要求,所以在后道一贯机筛选时如何把外观存在缺陷的不良品筛选掉就成了必须要解决的问题。目前国内的半导体企业采用的是人工挑选的方法,该方法由于工人眼睛长时间工作而引起的视觉疲劳等原因往往会有十万分之一或更小概率的外观缺陷不良品流入到正品,从而给产品流入市场带来了隐患。
发明内容
针对现有的人工检测方法的缺陷,本实用新型对现有的二极管一贯机进行了改进,设计了一种具有视觉检测的二极管一贯机,首先确保了检测的质量,减少了不良产品的混入,其次,提高了检测的速度,有利于产品的正常出货,再次就是减少了人员的使用,降低了产品的生产成本。
本实用新型通过以下技术方案实现:
新型二极管一贯机,包括对二极管进行分离的震荡盒,震荡盒连接有一个分向的第一测试装置,所述的第一测试装置后连接有对二极管进行分向使二极管的正负极方向相同的分向装置,分向装置连接有对二极管引脚进行修正的第 一引直设备,第一引直设备后连接有测试二极管电性能的第二测试装置,第二测试装置后连接有第二引直设备,第二引直设备连接有印字装置,印字装置后面连接有对印刷的字进行烘干的烘干装置,还包括一个第三测试装置,第三测试装置连接有一个对二极管进行包装的边带包装装置,其特征在于:在烘干装置和第三测试装置之间设置有一个视觉检测装置。
本实用新型在现有的一贯机上设置了一个视觉检测装置,用于对产品中的不良品进行检测,视觉检测装置具有不接触、速度快和精度高的优点,提高了检测的准确性,另外降低了人工成本,同时也克服了由于人员疲劳作业产生的错误。
所述的视觉检测装置包括一个设置在工件下方的摄像底座,设置在工件上方的摄像装置,以及与摄像装置连接的图像处理装置,图像处理装置对摄像装置的图像进行处理并发出控制信号给剔除装置,所述的视觉检测装置通过对工件进行摄像并将图像数据传送给图像处理装置进行处理,当发现异常时,图像处理装置向剔除装置发出控制信号,当工件运动到剔除装置的位置时,剔除装置将不良品剔除。
所述的视觉检测装置还包括一个起照明作用的照明装置,设置的照明装置便于摄像机在不同环境下进行工作,提高了视觉检测系统的应用范围。
所述的测试装置包括对二极管电性能测试的测试器,还包括一个用于剔除不良品的第一剔除装置,测试器用于测试二极管的电性能,确保出厂产品无不良品,剔除装置用于将检测出来的不良品剔除出来,实现了自动化的剔除,无需人工操作。
所述的烘干装置为UV加热烘干装置。
本实用新型在现有的一贯机系统上增加了视觉检测装置,实现了混料检测的自动化,减少了产线操作员数量的需求,降低了人员成本,同时还能减少人员的作业时间,避免了人员疲劳作业带来错误。
附图说明
图1为新型二极管一贯机的组成示意图,
图2为视觉检测装置的组成示意图,
图3为测试装置的组成示意图,
图1为震荡盒,2为第一测试装置,3为第一引直设备,4为第二测试装置,5为第二引直设备,6为印字装置,7为烘干装置,8为视觉检测装置,9为第三测试装置,10为边带包装装置,11为分向装置,12为摄像装置,13为照明装置,14为图像处理装置,15为剔除装置,16为测试器,17为第一剔除装置。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步说明:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造