[实用新型]155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及光通信技术领域，尤其是涉及一种155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪。

【背景技术】

近年来，通信和计算机网络技术发展迅猛，其中，光电子器件与微处理器和高速电子器件同时起到了至关重要的推动作用。光器件的先进性、可靠性和经济性会直接影响到系统设备乃至整个网络的生命力和市场竞争力。

目前，生产光通信测试设备的厂家主要集中在国外，例如美国Agilent公司、美国泰克公司、日本Aritsu公司、德国WG公司等，这些公司的产品技术先进、功能齐全，但上述设备的许多功能并非为光模块生产测试而设计，对中国的光模块生产厂家而言，其价格高、体积大，操作复杂；另外，现在也出现了专门的光模块测试系统，但它是将多台昂贵的仪表(仪表上必须带有GPIB系统)，其通过GPIB系统结合计算机自动控制技术以整合成一个完整的系统，故同样价格较高，不适合量化推广应用。

【实用新型内容】

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪的体积大、价格高的缺陷，提供一种体积较小、价格较低的155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪，所述装置包括：

用于产生测试码型信号的码流发生器；

连接于所述码流发生器且用于误码检测的误码检测模块。

进一步，在上述155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪中，所述装置还包括用于测试光模块的光功率及接收灵敏度的光衰减器及光功率计。

本实用新型155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪提高了生产效率，减小了工位面积，降低了生产成本。

【附图说明】

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1是本实用新型155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪较佳实施例的结构示意图。

【具体实施方式】

请参阅图1，图1是本实用新型的155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪较佳实施例的结构示意图。155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪1用于测试光模块20的接收和发送信号的功能，所述装置包括码流发生器3、误码检测模块4、光衰减器5及功率计6。其中，码流发生器3用于产生测试的码型信号；误码检测模块4连接于码流发生器3，其用于误码检测。光衰减器5及光功率计6用于测试光模块的光功率及接收灵敏度的。

本实用新型的光模块专用误码测试仪为155Mb/s-300Mb/s光模块的生产测试而设计，体积小、价格低，该产品能完成300Mb/s及以下速率的各种速率、各种电平接口的光模块测试，实现多个仪表的功能。本实用新型的155Mb/s-300Mb/s光模块专用误码测试仪可集成为一种放在桌面上操作的测试台，这样将大大提高了生产效率，减小了工位面积，从而大幅降低了生产成本。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。