[实用新型]上电检测电路无效

专利信息
申请号: 201020695924.5 申请日: 2010-12-31
公开(公告)号: CN201956989U 公开(公告)日: 2011-08-31
发明(设计)人: 兰俊 申请(专利权)人: 康佳集团股份有限公司
主分类号: H03K17/22 分类号: H03K17/22
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 高占元
地址: 518053 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 检测 电路
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及电路控制领域,更具体地说,涉及一种帮助芯片输出脚发出上电检测的电路。

背景技术

现今很多芯片在上电瞬间,输出脚没有进行上电复位,如:芯片对应的led灯输出脚没有上电检测,会给用户使用上的不变。

市场上的交换机,在设备复位的同时,均会使网口对应的LED灯闪烁一下后熄灭,以指示机器完成复位,可以正常工作了。但是有些交换芯片,在上电复位的同时,芯片不会主动复位LED灯输出脚,导致上电后只有电源灯亮,各网口对应的LED灯不会闪烁一下,这样就会给用户带来是否是交换机损坏的误解。

现有采用GPIO(通用输入/输出:General Purpose Input Output)做相应的功能引脚,但对于GPIO数量较少的CPU无法进行上述操作,即使可以采用上述办法操作,也增加了软件的工作量。另外,对于傻瓜型交换机而言,网络控制芯片一般不具有GPIO接口。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述芯片不会主动复位输出脚导致用户无法判断装置是否损坏的缺陷,提供一种会在芯片上电后,提供一个复位脉冲,进而利用该脉冲进行相关的动作(如使LED灯闪烁一次)的上电检测电路。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种上电检测电路,其中包括逻辑运算模块以及上电检测装置,所述逻辑运算模块包括输入复位信号的第一输入端、输入芯片的输出信号的第二输入端以及输出端,所述输出端与所述上电检测装置连接。

在本实用新型所述的上电检测电路中,所述第一输入端为低有效信号输入端或高有效信号输入端,所述第二输入端为低有效信号输入端,所述逻辑运算模块为与门、异或门或同或门。

在本实用新型所述的上电检测电路中,所述第一输入端为低有效信号输入端或高有效信号输入端,所述第二输入端为低有效信号输入端,所述复位信号通过非门输入到所述第一输入端,所述逻辑运算模块为与门、异或门或同或门。

在本实用新型所述的上电检测电路中,所述第一输入端为低有效信号输入端或高有效信号输入端,所述第二输入端为高有效信号输入端,所述芯片的输出信号通过非门输入到所述第二输入端,所述逻辑运算模块为与门、异或门或同或门。

在本实用新型所述的上电检测电路中,所述第一输入端为低有效信号输入端或高有效信号输入端,所述第二输入端为高有效信号输入端,所述逻辑运算模块为或门、异或门或同或门。

在本实用新型所述的上电检测电路中,所述第一输入端为低有效信号输入端或高有效信号输入端,所述第二输入端为高有效信号输入端,所述复位信号通过非门输入到所述第一输入端,所述逻辑运算模块为或门、异或门或同或门。

在本实用新型所述的上电检测电路中,所述第一输入端为低有效信号输入端或高有效信号输入端,所述第二输入端为低有效信号输入端,所述芯片的输出信号通过非门输入到所述第二输入端,所述逻辑运算模块为或门、异或门或同或门。

在本实用新型所述的上电检测电路中,所述第一输入端为低有效信号输入端或高有效信号输入端,所述第二输入端为高有效信号输入端,所述复位信号通过非门输入到所述第一输入端,所述输入芯片的输出信号通过非门输入到所述第二输入端,所述逻辑运算模块为与门、异或门或同或门。

在本实用新型所述的上电检测电路中,所述第一输入端为低有效信号输入端或高有效信号输入端,所述第二输入端为低有效信号输入端,所述复位信号通过非门输入到所述第一输入端,所述输入芯片的输出信号通过非门输入到所述第二输入端,所述逻辑运算模块为或门、异或门或同或门。

在本实用新型所述的上电检测电路中,所述上电检测装置为指示灯或蜂鸣器。

实施本实用新型的上电检测电路,具有以下有益效果:在芯片上电后,提供一个复位脉冲,进而利用该脉冲进行相关的动作(如使LED灯闪烁或蜂鸣器发出声响)。

通过非门、第一输入端、第二输入端以及逻辑运算模块的组合可以实现各种情况下的上电提示,并且可以实现不同的提示方式(如常亮闪烁、长灭闪烁、声音提示等)。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明,附图中:

图1是本实用新型的上电检测电路的第一优选实施例的结构示意图;

图2是本实用新型的上电检测电路的第二优选实施例的结构示意图;

图3是本实用新型的上电检测电路的第三优选实施例的结构示意图;

图4是本实用新型的上电检测电路的第四优选实施例的结构示意图;

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