[发明专利]光信息解析装置及光信息解析方法有效
申请号: | 201080001872.X | 申请日: | 2010-03-31 |
公开(公告)号: | CN102272574A | 公开(公告)日: | 2011-12-07 |
发明(设计)人: | 月井健;木村健一;高桥亨;徐杰 | 申请(专利权)人: | 古河电气工业株式会社 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘建 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息 解析 装置 方法 | ||
1.一种光信息解析装置,通过对分散于在流路内流动的液体的被测定对象即检体照射单模的照射光,而测定所述检体的光信息,其特征在于,
具有:
具有所述流路的流槽;
向所述流槽的所述流路导入所述液体的导入嘴;
对在所述流槽的所述流路流动的所述液体照射所述照射光的照射部;
对由从所述照射部照射的所述照射光所产生的所述液体的透过光进行受光,并将其作为透过光信号进行检测的、隔着所述流槽设于与所述照射部正对的位置的透过光受光部;
基于由所述透过光受光部所检测的所述透过光信号测定并解析所述检体的所述光信息的解析部,
所述透过光受光部以与光轴大致正交的受光面与所述照射部相面对,且所述受光面的中心与所述照射部的光轴大致一致的方式配置,
所述透过光受光部的所述受光面的直径d”和从所述透过光受光部的所述受光面的所述照射部照射的所述照射光的照射径D满足d”≤D的关系式。
2.如权利要求1所述的光信息解析装置,其特征在于,
所述透过光受光部具备:以与所述照射部相面对的方式配置与光轴大致正交的受光面的光纤,
所述光纤的纤芯径d和从所述光纤的所述受光面的所述照射部照射的所述照射光的照射径D满足d≤D的关系式。
3.如权利要求2所述的光信息解析装置,其特征在于,
所述光纤的包层径d’和所述光纤的所述受光面的从所述照射部照射的所述照射光的照射外轮廓径D’进一步满足D’≤d’的关系式。
4.如权利要求1~3中任一项所述的光信息解析装置,其特征在于,
还具备相对于基于所述照射部及所述透过光受光部的构成而决定的所述流路内的测定区域,相对地调整由所述流路内的所述液体产生的试样流的位置的调整部。
5.如权利要求1~4中任一项所述的光信息解析装置,其特征在于,
还具备一个以上的散射·荧光受光部,所述散射·荧光受光部对由从所述照射部照射的所述照射光产生的所述检体的侧方散射光和/或荧光进行受光,并将其作为散射·荧光信号进行检测,且将光轴设于与所述照射部的光轴交叉的、不与所述照射部正对的位置。
6.如权利要求5所述的光信息解析装置,其特征在于,
所述散射·荧光受光部具备:以不与所述照射部相面对的方式配置与光轴大致正交的受光面的光纤。
7.如权利要求5或6所述的光信息解析装置,其特征在于,
所述照射部的光轴和所述散射·荧光受光部的光轴大致正交。
8.如权利要求4~7中任一项所述的光信息解析装置,其特征在于,
以所述试样流的大致中心通过所述测定区域的大致中心的方式相对地调整所述流路内的所述试样流的位置。
9.如权利要求5~7中任一项所述的光信息解析装置,其特征在于,
所述调整部以所述试样流的大致中心通过与所希望的至少一个所述散射·荧光受光部交叉且比所述测定区域的大致中心更从所交叉的该散射·荧光受光部离开的位置的方式,相对地调整所述流路内的所述试样流的位置。
10.如权利要求4~9中任一项所述的光信息解析装置,其特征在于,
所述调整部具备调整所述流槽的所述流路内的所述导入嘴的前端部的位置的嘴位置调整机构,
通过由所述嘴位置调整机构调整所述流槽的所述流路内的所述导入嘴的前端部的位置,相对所述测定区域调整所述试样流的位置。
11.如权利要求4~9中任一项所述的光信息解析装置,其特征在于,
所述调整部具备多个偏心夹具,所述多个偏心夹具通过安装所述导入嘴且固定于所述流槽而调整所述流槽的所述流路内的所述导入嘴的前端部的位置,且所述导入嘴的前端部的位置不同,
利用从多个所述偏心夹具中选择的最佳的所述偏心夹具,以相对于所述测定区域成为所希望的所述试样流的位置的方式调整所述流路内的所述导入嘴的前端部的位置。
12.如权利要求1~11中任一项所述的光信息解析装置,其特征在于,
所述照射部具备传输所述照射光的光纤。
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