[发明专利]珍珠品质的非破坏判定方法

权利要求书

1.非破坏性地判定珍珠品质的方法，该方法通过测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区～可见区的反射光谱和/或紫外区～可见区的荧光光谱，并将得到的值与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值进行比较，来非破坏性地判定珍珠品质。

2.权利要求1所述的方法，该方法测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳中的珍珠层蛋白的分光反射光谱和/或荧光光谱。

3.权利要求1或2所述的方法，该方法判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的劣化程度。

4.权利要求1～3中任一项所述的方法，该方法包括：通过组合评价被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区～可见区的反射光谱的测定结果和被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区～可见区的荧光光谱的测定结果，判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的品质劣化是起因于热处理、还是起因于日光照射。

5.权利要求1～4中任一项所述的方法，其中，作为反射光谱，测定波长230～475nm范围的珍珠或珍珠贝壳的分光反射率。

6.权利要求1～5中任一项所述的方法，其中，作为反射光谱，测定波长250～260nm的分光反射率Ra和波长270～290nm的分光反射率Rb，求出两者之比即分光反射比R(a/b)或两者之差，基于此进行判定。

7.权利要求1～6中任一项所述的方法，其中，作为荧光光谱，以波长250～300nm的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长320～360nm的荧光强度。

8.权利要求1～7中任一项所述的方法，其中，作为荧光光谱，以波长250～400nm的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长400～550nm的荧光强度。

9.权利要求7或8所述的方法，其中，用装有透过波长320～360nm、420～460nm或400～550nm的光学滤光片的CCD照相机拍摄通过紫外线照射而产生的荧光，并将结果转换成数值，基于此进行判定。

10.珍珠品质的非破坏检查装置，该装置具备：

光照射部，用于对珍珠或珍珠贝壳照射来自紫外线光源的光；以及

荧光检测部，测定通过照射来自上述光照射部的紫外线而产生的荧光。

11.权利要求10所述的装置，其中进一步包括分光反射检测部，该分光反射检测部测定珍珠或珍珠贝壳对来自上述光照射部的紫外线照射的分光反射率。

12.权利要求10或11所述的装置，其中进一步包括分析部，该分析部比较上述检测部中得到的数据和预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的数据，以判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的劣化程度。

13.权利要求12所述的装置，其中进一步包括：

配置部，配置作为被检体的珍珠或珍珠贝壳；以及

显示部，显示上述分析部的输出结果。

14.权利要求10～13中任一项所述的装置，其中，荧光检测部具备装有使通过紫外线照射而产生的荧光透过波长320～360nm、420～460nm或400～550nm的光学滤光片的CCD照相机。

15.权利要求10～14中任一项所述的装置，其中，来自光照射部的照射光的波长为230～475nm。

16.权利要求10～15中任一项所述的装置，其中，在显示部中，根据珍珠或珍珠贝壳的劣化程度，分色显示来自分析部的输出结果。