[发明专利]酞菁纳米线、含有它的油墨组合物及电子元件、以及酞菁纳米线的制造方法有效
申请号: | 201080003942.5 | 申请日: | 2010-04-13 |
公开(公告)号: | CN102272234A | 公开(公告)日: | 2011-12-07 |
发明(设计)人: | 饵取秀树;村田秀之;深泽宪正;稻垣翔;五十住宏;笠井正纪 | 申请(专利权)人: | DIC株式会社 |
主分类号: | C09B47/04 | 分类号: | C09B47/04;B82B1/00;B82B3/00;C09B47/24;C09B67/22;C09D11/00;H01L21/336;H01L29/786;H01L51/05;H01L51/30;H01L51/40 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;於毓桢 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纳米 含有 油墨 组合 电子元件 以及 制造 方法 | ||
1.一种酞菁纳米线,其特征在于,其为含有酞菁及酞菁衍生物的酞菁纳米线,其短径为100nm以下,长度相对于该短径的比率(长度/短径)为10以上。
2.权利要求1中所述的酞菁纳米线,其中,所述酞菁为铜酞菁、锌酞菁或铁酞菁。
3.权利要求1或2中所述的酞菁纳米线,其中,所述酞菁衍生物为通式(1)或(2)表示的物质,
式中,X选自铜原子、锌原子、钴原子、镍原子、锡原子、铅原子、镁原子、硅原子、铁原子中的任一种,Y1至Y4表示使酞菁骨架和R1~R4结合的结合基团,Y1至Y4作为结合基团不存在时,R1~R4为SO3H、CO2H、可以具有取代基的烷基、可以具有取代基的(寡)芳基、可以具有取代基的(寡)杂芳基、可以具有取代基的邻苯二甲酰亚胺基或可以具有取代基的富勒烯类,Y1至Y4为-(CH2)n-(n表示1~10的整数)、-CH=CH-、-C≡C-、-O-、-NH-、-S-、-S(O)-、或-S(O)2-表示的结合基团时,R1~R4为可以具有取代基的烷基、可以具有取代基的(寡)芳基、可以具有取代基的(寡)杂芳基、可以具有取代基的邻苯二甲酰亚胺基或可以具有取代基的富勒烯类,a、b、c及d各自独立地表示0~2的整数,其中至少一个为1。
4.权利要求3中所述的酞菁纳米线,其中,所述可以具有取代基的烷基为甲基、乙基或丙基,可以具有取代基的(寡)芳基为可以具有取代基的(寡)亚苯基或可以具有取代基的(寡)亚萘基,可以具有取代基的(寡)杂芳基为可以具有取代基的(寡)吡咯基、可以具有取代基的(寡)噻吩基、可以具有取代基的(寡)苯并吡咯基、可以具有取代基的(寡)苯并噻吩基。
5.权利要求1或2中所述的酞菁纳米线,其中,所述酞菁衍生物为通式(3)表示的物质,
式中,X选自铜原子、锌原子、钴原子、镍原子、锡原子、铅原子、镁原子、硅原子、铁原子中的任意一种,Z为下述式(a)或(b)表示的基团,a、b、c及d各自独立地表示0~2的整数,其中至少一个为1;
其中,n为4~100的整数,Q各自独立地为氢原子或甲基,Q’为碳数1~30的非环状烃基;
其中,m为1~20的整数,R及R’各自独立地为碳数1~20的烷基。
6.一种油墨组合物,其以权利要求1中所述的酞菁纳米线和有机溶剂作为必须成分。
7.权利要求6中所述的油墨组合物,其中,酞菁纳米线的含有率在0.05~20质量%的范围内。
8.权利要求6中所述的油墨组合物,其中,所述有机溶剂为酰胺系有机溶剂、芳香族系有机溶剂或卤素系有机溶剂。
9.权利要求8中所述的油墨组合物,其中,所述酰胺系有机溶剂为N-甲基吡咯烷酮、N,N-二甲基甲酰胺、N,N-二乙基甲酰胺或N,N-二甲基乙酰胺。
10.权利要求8中所述的油墨组合物,其中,所述芳香族系有机溶剂为甲苯、二甲苯、乙苯、氯苯或二氯苯。
11.权利要求8中所述的油墨组合物,其中,所述卤素系有机溶剂为氯仿、二氯甲烷或二氯乙烷。
12.权利要求6中所述的油墨组合物,其中还含有造膜性材料。
13.权利要求12中所述的油墨组合物,其中,该造膜性材料为聚甲基丙烯酸甲酯、聚噻吩、聚苯乙炔、聚苯乙烯、聚碳酸酯或聚乙烯基咔唑。
14.一种膜,其特征在于含有权利要求1中所述的酞菁纳米线。
15.权利要求14中所述的膜,其中还含有造膜性材料。
16.权利要求15中所述的膜,其中,该造膜性材料为聚甲基丙烯酸甲酯、聚噻吩、聚苯乙炔、聚苯乙烯、聚碳酸酯或聚乙烯基咔唑。
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