[发明专利]具有改进的温度计算的过程温度变送器

权利要求书

1.一种在过程温度变送器中用于提供过程温度输出的方法，所述方法包括：

提供流经包括参考电阻器和电阻式温度设备(RTD)在内的电路的测量电流；

当所述测量电流流经所述参考电阻器时，测量所述参考电阻器上的第一电压；

当所述测量电流流经所述RTD时，测量所述RTD上的第一电压；

基于测量到的所述参考电阻器上的电压和测量到的第一电压，计算所述RTD的第一电阻；

基于所述RTD的第一电阻，提供第一过程温度输出；

当测量电流流经所述RTD时，测量所述RTD上的第二电压，第二测量发生在对所述第一电压的测量之后；

基于测量到的所述RTD上的第二电压和测量到的所述参考电阻器上的第一电压，估计所述参考电阻器上的第二电压；

基于所述测量到的第二电压和所估计的第二电压，计算所述RTD上的第二电阻；以及

基于所述第二电阻，提供第二过程温度输出。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测量步骤是使用所述过程温度变送器的模数变换器来执行的，以及所述计算是使用所述过程温度变送器的处理器来执行的。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，在过程通信环路上提供所述过程温度输出。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，对所述第二电压进行估计也基于校正因子。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述校正因子基于“全量程输入时的传感器电压和零输入时的传感器电压之间的差”与“全量程输入时的参考电压和零输入时的参考电压之间的差”的比率。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，在变送器表征过程期间计算所述校正因子。

7.根据权利要求5所述的方法，其中，在变送器耦合到过程时，计算所述校正因子。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，能够检测所述校正因子随着时间的变化，以将校正应用到在所述参考电阻器上测量到的电压。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，检测所述校正因子随着时间的变化，并使用所述变化来提供诊断信息。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述诊断信息与线路频率的影响有关。

11.根据权利要求9所述的方法，其中，所述诊断信息与电磁干扰有关。

12.根据权利要求1所述的方法，其中，还包括：

当测量电流流经所述RTD时，测量所述RTD上的后续电压，所述后续测量发生在对所述第二电压的测量之后；

基于测量到的后续电压和测量到的所述参考电阻器上的第一电压，估计所述参考电阻上的后续电压；

基于所述测量到的后续电压和所估计的所述参考电阻器上的后续电压，计算所述RTD上的后续电阻；以及

基于所述后续电阻，提供后续过程温度输出。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，对后续电压的测量、后续电压的估计、后续电阻的计算以及后续过程温度的提供进行重复，直到确定反馈条件。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述反馈条件基于循环的次数，在所述循环中对所述RTD上的电压进行测量。

15.根据权利要求13所述的方法，其中，所述反馈条件基于所述过程温度输出。

16.一种在过程温度变送器中用于提供过程温度输出的方法，所述方法包括：

提供流经包括参考电阻器和电阻式温度设备(RTD)在内的电路的测量电流；

当所述测量电流流经所述RTD时，测量所述RTD上的电压；

基于之前的参考电压和在所述RTD上测量到的电压，估计参考电压；

基于所估计的参考电压和测量到的电压，计算所述RTD的电阻；以及

基于所述RTD的电阻，提供过程温度输出。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，重复所述方法，直到确定反馈条件。

18.根据权利要求17所述的方法，其中，所述反馈条件基于循环的次数，在所述循环中对所述RTD上的电压进行测量。

19.根据权利要求17所述的方法，其中，所述反馈条件基于过程流体温度输出。

20.一种过程温度变送器，包括：

环路通信器，被配置为耦合到过程通信环路，并依照过程协议进行通信；

测量电路，被配置为耦合到具有随温度变化的电阻的电阻式温度设备，并且可操作地耦合到参考电阻器；以及

控制器，耦合到所述测量电路和所述环路通信器，所述控制器被配置为基于当前的电阻式温度设备电阻和之前的参考电阻器电阻，提供至少一个过程温度输出。