[发明专利]晶片接合用树脂浆料、使用该浆料的半导体装置的制造方法及半导体装置无效
申请号: | 201080004152.9 | 申请日: | 2010-03-10 |
公开(公告)号: | CN102272908A | 公开(公告)日: | 2011-12-07 |
发明(设计)人: | 杉浦良史;横地精吾;森修一;片山阳二;堂堂隆史;江花哲 | 申请(专利权)人: | 日立化成工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52;C08G59/40;C09J163/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;於毓桢 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶片 接合 树脂 浆料 使用 半导体 装置 制造 方法 | ||
1.一种晶片接合用树脂浆料,含有:使具有羧基的丁二烯的聚合物(a1)和具有环氧基的化合物(a2)反应而得到的聚合物(A)、热固性树脂(B)以及填料(C)。
2.如权利要求1所述的晶片接合用树脂浆料,进一步含有溶剂(D)。
3.如权利要求1所述的晶片接合用树脂浆料,进一步含有固化促进剂(E)。
4.如权利要求1所述的晶片接合用树脂浆料,其中,所述使具有羧基的丁二烯的聚合物(a1)和具有环氧基的化合物(a2)反应而得到的聚合物(A)的重均分子量为15000~70000。
5.一种半导体装置的制造方法,包括:(1)在基板上涂布权利要求1~3的任一项所述的晶片接合用树脂浆料的工序;(2)对所述树脂浆料进行B阶段化的工序;(3)在进行了B阶段化的所述树脂浆料上搭载半导体芯片的工序。
6.一种半导体装置,由权利要求5所述的半导体装置的制造方法得到。
7.一种半导体装置的制造方法,包括:(1)在基板上涂布权利要求1~3的任一项所述的晶片接合用树脂浆料的工序;(2)在所述树脂浆料上搭载半导体芯片的工序;(3)使用密封剂对所述半导体芯片进行密封的工序。
8.一种半导体装置,由权利要求7所述的半导体装置的制造方法得到。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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