[发明专利]X射线成像装置和X射线成像方法

权利要求书

1.一种X射线成像装置，包括：

分离元件，空间地分离由X射线产生器产生的X射线；

第一衰减元件，通过分离元件分离的X射线入射在该第一衰减元件上；

第二衰减元件，通过分离元件分离的X射线入射在该第二衰减元件上，该第二衰减元件被设置为与第一衰减元件相邻；和

检测单元，被配置为检测穿过第一衰减元件和第二衰减元件的X射线的强度，

其中，第一衰减元件被配置为使得X射线的透过量依照X射线入射的位置连续改变，并且，

其中，第二衰减元件被配置为使得X射线的透过量不依照X射线入射的位置改变。

2.根据权利要求1的X射线成像装置，还包括：

计算单元，被配置为通过使用从由检测单元检测的X射线的强度计算的X射线透过率，计算被检体的微分相位图像或相位图像。

3.根据权利要求2的X射线成像装置，

其中，计算单元从由检测单元检测的X射线的强度计算被检体的透过率图像。

4.根据权利要求1～3中的任一项的X射线成像装置，

其中，第二衰减元件的厚度在与入射在第二衰减元件上的X射线的方向垂直的方向上恒定。

5.根据权利要求1～4中的任一项的X射线成像装置，

其中，第二衰减元件的密度在与入射在第二衰减元件上的X射线的方向垂直的方向上恒定。

6.根据权利要求1～5中的任一项的X射线成像装置，

其中，第二衰减元件是上面设置有第一衰减元件的基板。

7.根据权利要求1～5中的任一项的X射线成像装置，

其中，第二衰减元件是在上面设置有第一衰减元件的基板中形成的开口。

8.根据权利要求1～7中的任一项的X射线成像装置，

其中，第一衰减元件的厚度在与入射在第一衰减元件上的X射线的方向垂直的方向上连续改变。

9.根据权利要求1～7中的任一项的X射线成像装置，

其中，第一衰减元件的密度在与入射在第一衰减元件上的X射线的方向垂直的方向上连续改变。

10.根据权利要求8的X射线成像装置，

其中，第一衰减元件是具有三角棱柱形状的结构。

11.一种在X射线成像装置中使用的X射线成像方法，该方法包括：

产生X射线；

空间地分离X射线；

使空间地分离的X射线入射在第一衰减元件和第二衰减元件上，该第二衰减元件被设置为与该第一衰减元件相邻；

检测穿过第一衰减元件和第二衰减元件的X射线的强度；和

通过使用被检体的X射线透过率计算被检体的微分相位图像或相位图像，该X射线透过率是从检测到的X射线的强度计算的，

其中，第一衰减元件被配置为使得X射线的透过量依照X射线入射的位置连续改变，并且，

其中，第二衰减元件被配置为使得X射线的透过量不依照X射线入射的位置改变。

12.一种X射线成像装置，包括：

第一元件，被配置为获得第一强度数据；

第二元件，被配置为获得第二强度数据，该第二元件被设置为与第一元件相邻；和

计算单元，被配置为基于从第二强度数据获得的被检体的X射线透过率，从第一强度数据计算由于被检体导致的X射线的相位偏移量。

13.一种X射线成像方法，包括：

通过使用第一元件获得第一强度数据；

通过使用第二元件获得第二强度数据；和

基于从第二强度数据获得的被检体的X射线透过率，从第一强度数据计算由于被检体导致的X射线的相位偏移量。