[发明专利]配置为至少部分地插入到混浊介质中的光学检查装置有效

专利信息
申请号: 201080005052.8 申请日: 2010-01-18
公开(公告)号: CN102292019A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: A·E·德雅尔丹;M·B·范德马克;B·H·W·亨德里克斯;G·T·霍夫特 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈松涛;蹇炜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 配置 至少 部分 插入 混浊 介质 中的 光学 检查 装置
【权利要求书】:

1.一种光学检查装置(10),被配置为至少部分地插入到混浊介质中,所述光学检查装置包括杆部(21),所述杆部(21)被配置为插入到所述混浊介质中,所述杆部(21)包括尖端部(22),所述尖端部(22)被配置为在插入到所述混浊介质中期间为最前部,其中

被配置为发射宽带光的光束(11)的至少一个光源装置设置在所述杆部(21)的被配置为插入到所述混浊介质中的区域中,所述宽带光的光束(11)包括受到不同调制的不同波长带(2a,2b,...,2n);以及

用于探测宽带光的至少一个光电探测器(27a,27b,27c)设置在所述杆部(21)的被配置为插入到所述混浊介质中的所述区域中。

2.根据权利要求1所述的光学检查装置,其特征在于,所述至少一个光电探测器(27a,27b,27c)电连接至所述光学检查装置的被配置为保持在所述混浊介质外部的部分中。

3.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述至少一个光电探测器(27a,27b,27c)是光电二极管。

4.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述杆部(21)设置有多个光电探测器(27a,27b,27c),所述多个光电探测器(27a,27b,27c)布置在相对于所述杆部(21)的不同位置处。

5.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述光学检查装置(10)包括解调和分析单元(32),所述解调和分析单元(32)被配置为对从所述至少一个光电探测器(27a,27b,27c)接收的信号执行频谱分析。

6.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述解调和分析单元(32)被配置为对来自多个光电探测器(27a,27b,27c)的信号执行频谱分析,并且还利用与所述多个光电探测器(27a,27b,27c)的相应位置有关的信息。

7.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述解调和分析单元(32)被配置为重建所述混浊介质的感兴趣的区域的多维图像。

8.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述杆部(21)形成活检针的至少一部分、导管的至少一部分或内窥镜的至少一部分。

9.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述至少一个光源装置由连接至光生成单元(80)的光导引结构(23)的端部形成,所述光生成单元(80)被配置为提供所述宽带光的光束(11)。

10.根据权利要求9所述的光学检查装置,其特征在于,所述光导引结构(23)布置在所述杆部(21)的材料中或核心元件(31)中,所述核心元件(31)被配置为放置在所述杆部内的空心通道(30)中。

11.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述至少一个光电探测器(27a,27b,27c)嵌入于所述杆部(21)的材料中。

12.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述光学检查装置(10)被配置为将50MHz以上的频率范围的高频调制施加于所述宽带光的光束(11)上。

13.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述光学检查装置是被配置为至少部分地插入到哺乳动物身体中的医学装置。

14.根据任一前述权利要求所述的光学检查装置,其特征在于,所述至少一个光源装置设置在所述尖端部(22)的区域中。

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