[发明专利]膜张力测定装置有效

专利信息
申请号: 201080005710.3 申请日: 2010-01-21
公开(公告)号: CN102301215A 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 大森博司;陈商煌;石津信彦;武田文义;藤原淳 申请(专利权)人: 国立大学法人名古屋大学;太阳工业株式会社
主分类号: G01L5/10 分类号: G01L5/10
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 张力 测定 装置
【权利要求书】:

1.一种膜张力测定装置,其特征在于包括:

矩形框体,其能够与施加有张力的膜体的膜面抵接;

音波产生装置,其朝由所述框体包围的所述膜体的一部分发出音波;

振动检测装置,其检测所述膜体的一部分因所述音波而产生的振动;及

运算装置,其基于所述振动检测装置所检测出的振动数据计算所述张力,其中,

所述音波产生装置、所述振动检测装置以及所述运算装置分别安装于所述框体。

2.如权利要求1所述的膜张力测定装置,其特征在于,

所述音波产生装置为包括平板的平板扬声器,该平板被设置成与所述膜体的一部分平行,且基于电气信号发出所述音波。

3.如权利要求1或2所述的膜张力测定装置,其特征在于,

对应于接通所述音波产生装置的操作,所述音波产生装置开始动作并发出音波,所述振动检测装置自动检测所述膜体的一部分因所述音波而产生的振动,所述运算装置基于所述振动检测装置所检测出的振动数据自动计算所述张力且自动记忆包含所述振动数据和运算结果的测定结果,并且将该测定结果显示于显示部。

4.如权利要求1至3项中任一项所述的膜张力测定装置,其特征在于,

能够调整所述音波产生装置所发出的音波的输出的大小。

5.如权利要求1至4项中任一项所述的膜张力测定装置,其特征在于,

所述振动检测装置以所述音波产生装置正在动作作为条件而进行动作。

6.如权利要求第1至5项中任一项所述的膜张力测定装置,其特征在于,

所述运算装置从所述音波产生装置开始动作起经过预定时间后开始动作。

7.如权利要求第1至6项中任一项所述的膜张力测定装置,其特征在于,

所述各装置的电源为电池。

8.如权利要求第1至7项中任一项所述的膜张力测定装置,其特征在于,

所述运算装置基于所述振动检测装置检测出的振动中,过滤掉预定值以下的低频振动后的数据,计算所述张力。

9.如权利要求第1至8项中的任一项所述的膜张力测定装置,其特征在于包括:

无线模块,其可无线发送包含所述运算装置的运算结果的测定数据;及

接收装置,其位于离开所述运算装置的位置,且接收从所述无线模块发送的测定数据,其中,

所述接收装置包括显示所接收的所述测定数据的显示部。

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