[发明专利]光学信息再生装置、光学信息再生方法以及集成电路

权利要求书

1.一种光学信息再生装置，从光学信息记录介质再生信息，其特征在于包括：

聚光部，生成近场光；

测定部，利用由所述聚光部生成的近场光，测定所述光学信息记录介质的再生信号质量；

间隙长决定部，基于所述测定部的再生信号质量的测定结果，将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长作为设定值而决定；以及

间隙控制部，基于由所述间隙长决定部决定的设定值，控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙。

2.根据权利要求1所述的光学信息再生装置，其特征在于还包括：

检测部，光学检测所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长并输出检测信号，其中，

所述间隙控制部，利用所述检测信号控制所述间隙。

3.根据权利要求1或2所述的光学信息再生装置，其特征在于：所述测定部以至少两种不同的间隙长测定所述再生信号质量。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的光学信息再生装置，其特征在于还包括：

再生停止部，在即使将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长缩短为指定的长度，由所述测定部测定的所述再生信号质量的测定值还不能满足指定的质量条件的情况下，停止所述光学信息记录介质的再生。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光学信息再生装置，其特征在于：所述间隙长决定部将所述间隙长与所述再生信号质量的测定值的关系为指定关系时的间隙长作为所述设定值而决定。

6.根据权利要求5所述的光学信息再生装置，其特征在于：所述间隙长决定部将所述再生信号质量的测定值为指定值时的最大间隙长作为所述设定值而决定。

7.根据权利要求5所述的光学信息再生装置，其特征在于：所述间隙长决定部将表示所述间隙长与所述再生信号质量的测定值的关系的特性曲线的切线斜率为指定值时的间隙长作为所述设定值而决定。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的光学信息再生装置，其特征在于：

所述光学信息记录介质为可记录或可重写的介质，

所述光学信息再生装置还包括，以预先确定的记录功率及记录策略将测试信号记录到所述光学信息记录介质中的测试记录部，其中，

所述测定部，通过从所述光学信息记录介质再生所述测试信号来测定所述再生信号质量。

9.根据权利要求8所述的光学信息再生装置，其特征在于还包括：在所述间隙控制部控制了所述间隙后，将所述记录功率设定为目标值的记录功率设定部。

10.根据权利要求8所述的光学信息再生装置，其特征在于还包括：在所述间隙控制部控制了所述间隙后，将所述记录策略设定为目标值的记录策略设定部。

11.一种光学信息再生方法，用于从光学信息记录介质再生信息，其特征在于包括以下工序：

测试再生工序，利用由聚光部生成的近场光，测定所述光学信息记录介质的再生信号质量；

间隙长决定工序，基于在所述测试再生工序中的再生信号质量的测定结果，将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长作为设定值而决定；以及

间隙控制工序，基于在所述间隙长决定工序中决定的设定值，控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙。

12.一种集成电路，用于具备生成近场光的聚光部并从光学信息记录介质再生信息的光学信息再生装置中，其特征在于包括：

测定电路，利用由所述聚光部生成的近场光，测定所述光学信息记录介质的再生信号质量；

间隙长决定电路，基于所述测定电路的再生信号质量的测定结果，将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长作为设定值而决定；以及

间隙控制电路，基于由所述间隙长决定电路决定的设定值，控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙。