[发明专利]用于力测量装置的校准装置和力测量装置有效

专利信息
申请号: 201080006909.8 申请日: 2010-02-05
公开(公告)号: CN102326058A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: G·范克豪泽;M·于斯泰尔;M·厄塞;F·施奈德 申请(专利权)人: 梅特勒-托利多公开股份有限公司
主分类号: G01G23/01 分类号: G01G23/01
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 蔡洪贵
地址: 瑞士格*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 装置 校准
【权利要求书】:

1.一种力测量装置(1)、特别是称重装置的校准装置(40),所述校准装置具有可电控的力产生部件(41),所述力产生部件被设计成用于以使预定力(FC)可施加到力测量装置(1)的力测量单元(10)的方式接合到力测量单元(10),使得力测量单元(10)产生测量信号(SF),所述测量信号(SF)与施加的力(FC)相关,且可传递到力测量单元的处理单元(60,PU),在所述处理单元处,测量信号可与预定力(FC)相关地被处理,其特征在于,校准装置(40)包括校准控制单元(50,CCU),表征力测量装置(1)和/或校准装置(40)的至少一个预定参数(P)可始终被提供给所述校准控制单元(50,CCU)使用,其中,校准控制单元(50,CCU)可借助于通信线路(52)连接到处理单元(60,PU),以便与处理单元(60,PU)交换信息信号(SCD),且校准控制单元(50,CCU)被构造成基于信息信号(SCD)和参数(P)产生控制信号,以便从而控制力产生部件(41)。

2.如权利要求1所述的校准装置(40),其特征在于,校准控制单元(50,CCU)包括预定的固定程序或可更改的程序,所述预定的固定程序或可更改的程序用于处理所述至少一个参数(P)和信息信号(SCD)以及用于产生控制信号。

3.如权利要求1或2所述的校准装置(40),其特征在于,校准控制单元(50,CCU)包括用于存储参数(P)的非易失性存储器元件(MEM),和/或校准控制单元(50,CCU)被设计成通过交换信息信号(SCD)从处理单元(60,PU)接收参数(P)。

4.如权利要求1-3中任一所述的校准装置(40),其特征在于,参数(P)表征力测量装置(1)的类型,或力测量装置(1)的功能原理或测量范围或测量精度或测量稳定性或指定的应用领域。

5.如权利要求1-4中任一所述的校准装置(40),其特征在于,参数(P)表征校准装置(40)的类型或功能原理、特别是限定力产生部件(41)接合到力测量单元(10)的至少一个空间尺寸。

6.如权利要求1-5中任一所述的校准装置(40),其特征在于,参数(P)表征力产生部件(41)的类型、特别是其功能原理,或要产生的力的幅度或力的变化速率或变化的加速度或移位路径的长度。

7.如权利要求1-6中任一所述的校准装置(40),其特征在于,校准控制单元(50,CCU)被设计成用于以数字格式和/或编码格式和/或以双向模式和/或以数据包的形式交换信息信号(SCD),和/或被设计成用于连接到总线系统。

8.如权利要求1-7中任一所述的校准装置(40),其特征在于,所述校准控制单元(50,CCU)包括逻辑电路接口,使得被传递的信息可根据预定的、特别是标准化的规范交换,和/或校准控制单元(50,CCU)被设计成用于根据通信协议交换信息信号(SCD)。

9.如权利要求1-8中任一所述的校准装置(40),其特征在于,校准装置(40)包括时钟(CL),所述时钟用于控制校准装置随时间的特性、特别是用于记录事件或检测故障,且特定的事件或故障的发生可与时间标记一起写入校准控制单元的存储器中的记录文件中。

10.如权利要求1-9中任一所述的校准装置(40),其特征在于,力产生部件(41)包括校准重量体(41),所述校准重量体用于产生预定力(FC)且被设置成具有移动的能力,使得通过改变校准重量体的位置,校准重量体可接合到力测量单元(10)。

11.如权利要求1-10中任一所述的校准装置(40),其特征在于,所述校准控制单元(50,CCU)设置在支撑力产生部件(41)的保持器或基板上,和/或校准控制单元(50,CCU)被设置成使校准控制单元(50,CCU)与力产生部件(41)之间的空间距离明显小于校准控制单元(50,CCU)与处理单元(60,PU)之间的空间距离。

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