[发明专利]被检体信息分析装置以及被检体信息分析方法有效
申请号: | 201080007931.4 | 申请日: | 2010-06-02 |
公开(公告)号: | CN102439418A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
发明(设计)人: | 印南岳晴;五十岚诚 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社;奥林巴斯医疗株式会社 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;A61B8/08;A61B10/00;G01N29/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 被检体 信息 分析 装置 以及 方法 | ||
1.一种被检体信息分析装置,其特征在于,具备:
受光单元,其从被照射第一频率的超声波和第二频率的照射光的被检体中的检查对象部位接收作为对于上述照射光的散射光的经频率调制的光;
信息提取单元,其提取上述经频率调制的光中的频移了上述第一频率的整数倍的特定频率的信息;以及
特征信息生成单元,其根据通过上述信息提取单元提取出的上述特定频率的信息生成与构成上述检查对象部位的结构组织的组成比率有关的特征信息。
2.根据权利要求1所述的被检体信息分析装置,其特征在于,
上述特征信息生成单元使用上述特定频率的信息生成表示设为上述结构组织由细胞核和细胞质组成时的上述细胞核所占的体积的比例的体积分数、或者设为由细胞核和细胞质组成时的细胞核/细胞质比的计算值,来作为上述特征信息。
3.根据权利要求1所述的被检体信息分析装置,其特征在于,
上述信息提取单元进一步使用上述经频率调制的光的信息中的频移了上述第一频率的整数倍的至少两个不同的特定频率的强度信息,来计算用于生成上述特征信息的上述经频率调制的光的调制度。
4.根据权利要求2所述的被检体信息分析装置,其特征在于,
上述特征信息生成单元使用上述特定频率的信息生成表示设为上述结构组织由细胞核和细胞质组成时的上述细胞核所占的体积的比例的体积分数、或者设为由细胞核和细胞质组成时的细胞核/细胞质比的计算值,来作为上述特征信息。
5.根据权利要求1所述的被检体信息分析装置,其特征在于,还具备:
扫描单元,其对被照射上述第一频率的超声波、并且被照射上述第二频率的照明光的上述检查对象部位进行扫描;以及
显示处理单元,其将构成被扫描的各扫描位置的上述检查对象部位的结构组织的上述体积分数或者上述细胞核/细胞质比的计算值显示为图像。
6.根据权利要求1所述的被检体信息分析装置,其特征在于,
上述受光单元由接收干涉光的干涉光受光单元构成,该干涉光是使作为来自上述超声波会聚而照射的上述检查对象部位的上述散射光的经频率调制的光与反射上述照射光而不伴随频率调制的参照光发生干涉而得到的光。
7.根据权利要求1所述的被检体信息分析装置,其特征在于,
上述受光单元由接收干涉光的干涉光受光单元构成,该干涉光是使作为来自上述超声波会聚而照射的上述检查对象部位的上述散射光的经频率调制的光与来自上述检查对象部位的周围中几乎没有照射超声波的部分的几乎不伴随频率调制的散射光发生干涉而得到的光。
8.根据权利要求3所述的被检体信息分析装置,其特征在于,
上述信息提取单元根据上述调制度的信息来计算被照射上述超声波的状态下的构成上述结构组织的上述细胞核的振动速度的最大值。
9.一种被检体信息分析装置,其特征在于,具有:
光照射单元,其向被检体内的检查对象部位照射规定频率的光;
受光单元,其从被照射第一频率的超声波而进行超声波振动的上述检查对象部位接收作为上述光的散射光的经频率调制的光;
信息提取单元,其通过光学方式或者电方式提取上述经频率调制的光中的频移了上述第一频率的整数倍的特定频率的信息;以及
辨别单元,其根据使用上述信息提取单元提取出的上述特定频率的信息计算出的与构成上述检查对象部位的结构组织的组成比率有关的特征信息,来辨别上述结构组织的性状。
10.根据权利要求9所述的被检体信息分析装置,其特征在于,
使用通过上述信息提取单元提取出的上述特定频率的信息计算出的上述特征信息是表示设为上述结构组织由细胞核和细胞质组成时的上述细胞核所占的体积的比例的体积分数、或者设为由细胞核和细胞质组成时的细胞核/细胞质比的计算值。
11.根据权利要求10所述的被检体信息分析装置,其特征在于,
还具有超声波照射单元,该超声波照射单元照射上述第一频率的超声波使得超声波沿着规定的超声波传送轴到达上述被检体内的上述检查对象部位,
上述受光单元接收通过向上述检查对象部位照射上述第一频率的超声波而进行频率调制得到的光。
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