[发明专利]探测在材料内的矿物

权利要求书

1.一种探测在目标材料中的矿物的方法，包括：

(a)向所述材料施加电磁辐射；

(b)在将所述材料暴露于所述辐射期间或者紧接在将所述材料暴露于所述辐射之后，探测从所述材料发射出来的热辐射；和

(c)分析所述热辐射，以确定在所述材料中的矿物的存在。

2.一种探测在材料中的矿物的方法，包括：

(a)向所述材料施加电磁辐射；

(b)在将所述材料暴露于所述辐射期间或者紧接在将所述材料暴露于所述辐射之后，探测从所述材料发射出来的热辐射；

(c)确定所述材料或者其一部分的加热速率；和

(d)分析所述加热速率，以确定在所述材料中的矿物的存在。

3.根据权利要求1或者权利要求2的方法，包括在将所述材料暴露于辐射期间探测从所述材料发射出来的热辐射。

4.根据权利要求1或者权利要求2的方法，包括在将所述材料暴露于辐射2.0秒内探测从所述材料发射出来的热辐射。

5.根据权利要求1或者权利要求2的方法，包括在将所述材料暴露于辐射1.0秒内探测从所述材料发射出来的热辐射。

6.根据权利要求1或者权利要求2的方法，包括在将所述材料暴露于辐射0.5秒内探测从所述材料发射出来的热辐射。

7.根据前述权利要求中任一项的方法，其中步骤(a)包括选择辐射和暴露条件，诸如暴露时间，以将目标矿物加热到显著地比所述材料的其它组分的温度要高(例如，至少5℃、典型地至少20℃，并且更加典型地在5-50℃的范围内)的温度。

8.根据前述权利要求中任一项的方法，其中所述电磁辐射是低能量辐射，诸如小于1000MW/m³、典型地小于100MW/m³的能量密度。

9.根据前述权利要求中任一项的方法，其中所述电磁辐射是微波能。

10.根据前述权利要求中任一项的方法，其中所述电磁辐射是连续的或者脉冲式的。

11.根据权利要求10的方法，其中，所述电磁辐射的脉冲持续时间和/或所述电磁辐射的频率被选择成使得：

(a)对表面水分和/或所述材料内吸收的水分的加热被最小化；

(b)所述电磁辐射吸收目标矿物和所述材料中的其它组分之间的热差异被最大化，所述其它组分诸如为其它矿物和脉石材料；

(c)脉石材料的加热被最小化；并且

(d)所述材料中的目标矿物以不同的方式适当地受到所述电磁辐射影响。

12.根据权利要求10或者权利要求11的方法，其中脉冲持续时间达1秒。

13.根据权利要求10或者权利要求11的方法，其中脉冲持续时间是0.01-1秒。

14.根据权利要求10到13中任一项的方法，其中在所述电磁辐射是微波辐射的情况下，以低于1000MW/m³的功率密度施加脉冲微波辐射。

15.根据权利要求10到13中任一项的方法，其中在所述电磁辐射是微波辐射的情况下，以在1-100MW/m³的范围内的功率密度施加脉冲微波辐射。

16.根据权利要求10到15中任一项的方法，其中在所述电磁辐射是微波辐射的情况下，辐射的频率在400-5800MHz的范围内。

17.一种将进给材料流分选成至少两股材料流的方法，包括：

(a)使用根据前述权利要求中任一项的方法确定在所述进给材料流中的目标矿物的存在；和

(b)基于上述确定将所述进给材料流分成所述至少两股材料流。

18.一种用于确定在材料内目标矿物的存在的设备，包括：

(a)电磁辐射暴露区，所述电磁辐射暴露区包括适于将辐射发射到所述暴露区中的电磁辐射发射器；

(b)探测器，所述探测器用于在向所述材料施加电磁辐射期间探测从所述材料发射出来的热辐射；和

(c)分析器，所述分析器用于解析由所述探测器探测到的热辐射或者用于基于由所述探测器探测到的热辐射确定所述材料或其一部分的加热速率，并且由此用于确定在所述材料内的所述目标矿物的存在。