[发明专利]试剂制备装置及样本处理系统

说明书

技术领域：

本发明涉及一种试剂制备装置及样本处理系统，特别是涉及一种能够制备测定中使用的预定试剂的试剂制备装置及样本处理系统。

背景技术：

已知有一种能制备测定用试剂的试剂制备装置(比如参考专利文献1)。

上述专利文献1公开了一种可以用高浓度试剂和纯水制备试剂的试剂制备装置。

在此，当用试剂制备装置制备的试剂进行测定时，如果测定结果的可信程度低，就要研究其原因并加以改善。而且为了研究测定结果可信程度低的原因，人们往往考虑调查测定所用试剂的相关试剂信息。

然而，在上述专利文献1中，关于获取试剂制备装置制备的试剂的相关试剂信息的结构没有任何记述。由此可以认为，在此试剂制备装置中，当测定结果可信程度低的时候，无法获得测定所用试剂的试剂信息，从而存在难以研究测定结果可信程度低的原因的缺陷。

在此，人们已经知道有一种技术可以获取试剂制备装置制备的试剂的相关试剂信息(比如参考专利文献2)。

上述专利文献2中公开了一种集中监视系统，它具有数个试剂制备装置、连接在数个试剂制备装置上的服务器电脑、以及与服务器电脑连接的用户电脑。此集中监视系统能够将试剂制备装置制备的试剂的电导率等试剂信息和试剂制备时间信息从各试剂制备装置传送到服务器电脑，并在用户电脑上显示所传来的试剂信息和试剂制备时间信息。

先行技术文献

专利文献

专利文献1：特开平9-33538号公报

专利文献2：特开2007-240430号公报

发明内容：

发明要解决的课题

然而，上述专利文献2所记载的集中监视系统虽然能够确认试剂制备装置制备的试剂的试剂信息和制备时间信息，但不能确认所制备的试剂何时在测定部件中使用，因此，当测定结果可信程度低时，很难确定用于测定的试剂。因此，此集中监视系统也存在难以调查测定结果可信程度低的原因的问题。

此发明正是为解决上述问题，本发明的目的之一是提供一种能够研究测定结果可信度低的原因的试剂制备装置和样本处理系统。

解决课题的方法及发明的效果

为了达到上述目的，本发明第一层面的试剂制备装置用于制备供应给测定部件的预定试剂，其中该测定部件用含有第一液体和不同于第一液体的第二液体的预定试剂测定样本，该试剂制备装置包括用于制备预定试剂的试剂制备部件以及用于获取试剂制备部件所制备的预定试剂的相关试剂信息，并获取关于试剂制备部件所制备的预定试剂供应给测定部件的时间的供给时间信息，输出试剂信息和供给时间信息的控制部件。

本发明第一层面涉及的如上所述的试剂制备装置，设置有控制部件来获取试剂制备部件所制备的预定试剂的相关试剂信息，获取关于试剂制备部件所制备的预定试剂供应给测定部件的时间的供给时间信息，输出试剂信息和供给时间信息，因此，根据控制部件输出的预定试剂的试剂信息和预定试剂供应给测定部件的供给时间信息，可以很轻松地确认有何属性的试剂何时供给了测定部件。据此，当测定结果可信度低时，很容易获得测定中使用的试剂的信息，方便追查测定结果可信度低的原因。

在上述第一层面涉及的试剂制备装置中，控制部件最好获取反映预定试剂的品质的品质信息作为试剂信息。采用如此结构，可以在确定了测定部件测定中所使用的预定试剂后，确认该预定试剂的品质，从而更易于追查测定结果可信度低的原因。

在这种情况下，最好还具有用于测定预定试剂的电导率的电导率测定部件，控制部件获取电导率测定部件测定的电导率作为品质信息。如此，根据测定部件测定中所使用的预定试剂的电导率可以很容易地判断预定试剂的品质。

在上述第一层面涉及的试剂制备装置中，控制部件最好还获取与试剂制备部件制备的预定试剂的时间相关的制备时间信息，根据所获取的制备时间信息获得供给时间信息。如此可以通过控制部件根据制备时间信息获取供给时间信息，不必与制备时间信息分开地单独测定和获取供给时间信息。

在此情况下，最好还具有存剂部件，用于存放试剂制备部件制备的、处于准备向测定部件供应状态的预定试剂，控制部件获取预定试剂供应给存剂部件的时间作为制备时间信息。如此，可以将制备完成时间，即预定试剂变为可供应给测定部件的状态的时间作为制备时间信息。