[发明专利]集成电路中的容错性有效

专利信息
申请号: 201080012139.8 申请日: 2010-02-22
公开(公告)号: CN102356383A 公开(公告)日: 2012-02-15
发明(设计)人: A·兰克;R·特里梅因;M·切克 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 于静;杨晓光
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 中的 容错
【权利要求书】:

1.一种确定集成电路中的容错性的系统,所述系统包括:

由所述集成电路承载的可编程逻辑器件;

由所述可编程逻辑器件承载的可配置存储器,用于控制所述可编程器件的一部分的功能和连接中的至少一个;

由所述可编程逻辑器件承载并与用户和所述可配置存储器中的至少一个通信的用户逻辑,所述用户逻辑用于根据变化的用户要求识别所述可配置存储器中的已损坏数据。

2.如权利要求1的系统,其中所述用户逻辑提供对可配置存储器位和可配置存储器校验器位中的至少一个的存取,以便为所述可配置存储器提供检错和纠错中的至少一个。

3.如权利要求1或2的系统,其中经由所述用户逻辑并基于用户选择已损坏数据识别方案而将所述可编程器件的第二部分选择为校验器。

4.如任一上述权利要求的系统,还包括所述可编程器件的第三部分的行和列中的至少一个的捕获锁存器,所述捕获锁存器和所述用户逻辑协作以在所述可配置存储器中具体定位任何已损坏数据。

5.如权利要求4的系统,其中所述用户逻辑确定已损坏数据严重度、已损坏数据重要性以及已损坏数据粒度中的至少一个。

6.如权利要求4的系统,还包括多路复用器,所述多路复用器与所述用户逻辑通信以提供正确数据以便替换在所述可配置存储器中识别的任何已损坏数据。

7.如任一上述权利要求的系统,其中所述可编程逻辑器件包括复杂可编程逻辑器件和现场可编程门阵列中的至少一种;并且其中所述可配置存储器包括易失性存储器和非易失性存储器中的至少一种。

8.一种确定集成电路中的容错性的方法,所述方法包括:

经由可配置存储器控制可编程逻辑器件的一部分的至少一个;以及

经由与用户和所述可编程逻辑器件中的至少一个通信的用户逻辑且根据所选择的用户要求识别所述可配置存储器中的已损坏数据。

9.如权利要求8的方法,还包括存取可配置存储器位和可配置存储器校验器位中的至少一个,以便为所述可配置存储器提供检错和纠错中的至少一个。

10.如权利要求8或9的方法,还包括选择所述可编程逻辑器件的第二部分作为校验器并选择已损坏数据识别方案。

11.如权利要求8至10中的任一权利要求的方法,还包括经由所述可编程器件的第三部分的行和列中的至少一个的捕获锁存器在所述可配置存储器中定位任何已损坏数据。

12.如权利要求11的方法,还包括确定已损坏数据严重度、已损坏数据重要性以及已损坏数据粒度中的至少一个。

13.如权利要求11的方法,还包括使用正确数据替换所述可配置存储器中的已损坏数据。

14.一种体现在有形介质中的计算机程序产品,所述计算机程序产品包括:

耦合到所述有形介质以确定集成电路中的容错性的计算机可读程序代码,所述计算机可读程序代码被配置为导致程序执行如权利要求8至13中的任一权利要求的步骤。

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