[发明专利]光学三维结构测量装置及其结构信息处理方法有效
申请号: | 201080012574.0 | 申请日: | 2010-03-03 |
公开(公告)号: | CN102355861A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 寺村友一 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | A61B10/00 | 分类号: | A61B10/00;A61B1/00;A61B1/04;G01B11/24;G01N21/17 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤雄军 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 三维 结构 测量 装置 及其 信息处理 方法 | ||
1.一种光学三维结构测量装置,所述光学三维结构测量装置在具有层结构的测量目标的叠层的深度方向上引导测量光,并对所述测量光的光轴进行二维扫描以获得所述测量目标的光学三维结构信息,所述光学三维结构测量装置包括:
光学三维结构信息存储装置,用于存储所述光学三维结构信息;
特定层提取装置,用于比较存储在所述光学三维结构信息存储装置中的光学三维结构信息的信息值与预定阈值,并将等于或大于预定范围的区域作为所述测量目标的特定层区提取,其中等于或大于所述预定阈值的所述光学三维结构信息的信息值在等于或大于预定范围的所述区域中连续;
遗漏区提取装置,用于将所述特定层区中的所述光学三维结构信息的信息值小于所述预定阈值的区域作为遗漏区提取;
遗漏区范围计算装置,用于计算所述遗漏区的范围的大小;以及
感兴趣区分类装置,用于比较所述遗漏区的范围的大小与多个预定范围确定参考值,并将所述遗漏区分类成多种类型的感兴趣区。
2.根据权利要求1所述的光学三维结构测量装置,其中,所述特定层提取装置包括噪点区删除装置,在等于或大于所述预定阈值的所述光学三维结构信息的信息值连续的区域小于所述预定范围的情况下,所述噪点区删除装置确定作为噪点区的区域以从所述光学三维结构信息删除所述区域。
3.根据权利要求1或2所述的光学三维结构测量装置,还包括计算机图形图像构建装置,用于将渲染处理应用到所述光学三维结构信息以构建计算机图形图像。
4.根据权利要求3所述的光学三维结构测量装置,包括用于添加属性的属性添加装置,所述属性添加装置将能够识别所述特定层区和所述感兴趣区的属性添加到所述特定层区和所述感兴趣区,其中所述计算机图形图像构建装置将渲染处理应用到所述光学三维结构信息以构建包括至少设有所述属性的所述特定层区和所述感兴趣区的所述计算机图形图像。
5.根据权利要求4所述的光学三维结构测量装置,其中,所述计算机图形图像构建装置将投影图像构建为所述计算机图形图像,所述投影图像在所述测量目标的叠层的深度方向上投影所述特定层区。
6.根据权利要求4或5所述的光学三维结构测量装置,其中,所述计算机图形图像构建装置将渲染处理应用到所述光学三维结构信息,以构建光学三维结构图像作为所述计算机图形图像。
7.根据权利要求4-6中任一项所述的光学三维结构测量装置,其中,所述属性添加装置包括属性控制装置,所述属性控制装置用于将小于至少在所述预定范围确定参考值中的最小范围确定参考值的所述感兴趣区的属性设定为所述特定层区的属性。
8.根据权利要求7所述的光学三维结构测量装置,其中,所述属性控制装置根据具有大于所述预定范围确定参考值中的最小范围确定参考值的数值的多个范围确定参考值将不同的属性添加到由所述感兴趣分类装置分类的所述感兴趣区中的每一个。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的光学三维结构测量装置,其中,所述测量目标是活粘膜组织,所述感兴趣区分类装置将等于或大于所述预定范围确定参考值中的第一范围确定参考值且小于所述预定范围确定参考值中的第二范围确定参考值的所述感兴趣区分类成新生血管区,其中所述第二范围确定参考值大于所述第一范围确定参考值。
10.根据权利要求9所述的光学三维结构测量装置,其中,所述感兴趣区分类装置将等于或大于所述预定范围确定参考值中的所述第二范围确定参考值的所述感兴趣区分类成肿瘤侵入区。
11.根据权利要求9或10所述的光学三维结构测量装置,还包括新生血管分布图像生成装置,用于生成由所述感兴趣区分类装置确定的新生血管区的分布,作为在所述特定层区中的新生血管分布图像。
12.根据权利要求9-11中任一项所述的光学三维结构测量装置,其中,所述特定层区包括所述活粘膜组织的基底膜区和粘膜肌层区中的至少一个。
13.一种光学三维结构测量装置的结构信息处理方法,所述光学三维结构测量装置在具有层结构的测量目标的叠层的深度方向上引导测量光,并对所述测量光的光轴进行二维扫描以获得所述测量目标的光学三维结构信息,所述结构信息处理方法包括以下步骤:
存储所述光学三维结构信息的光学三维结构信息存储步骤;
特定层提取步骤,包括以下步骤:比较在所述光学三维结构信息存储步骤中存储的光学三维结构信息的信息值与预定阈值,并将等于或大于预定范围的区域作为所述测量目标的特定层区提取,其中等于或大于所述预定阈值的所述光学三维结构信息的信息值在等于或大于预定范围的所述区域中连续;
将所述特定层区中的所述光学三维结构信息的信息值小于所述预定阈值的区域作为遗漏区提取的遗漏区提取步骤;
计算所述遗漏区的范围的大小的遗漏区范围计算步骤;以及
感兴趣区分类步骤,包括以下步骤:比较所述遗漏区的范围的大小与多个预定范围确定参考值,并将所述遗漏区分类成多种类型的感兴趣区。
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