[发明专利]空调装置无效
申请号: | 201080012761.9 | 申请日: | 2010-03-18 |
公开(公告)号: | CN102348943A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 木下英彦;山田刚 | 申请(专利权)人: | 大金工业株式会社 |
主分类号: | F25B1/00 | 分类号: | F25B1/00;F24F1/00;F24F11/02;F25B13/00;F25B47/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 胡晓萍 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 空调 装置 | ||
1.一种空调装置(1),利用制冷循环,该制冷循环中对制冷剂配管(F)和/或与在所述制冷剂配管(F)中流动的制冷剂热接触的构件进行感应加热,并包括使制冷剂循环的压缩机构(21),其特征在于,包括:
磁场产生部(68),该磁场产生部(68)为了对所述感应加热的加热对象部分(F2)进行感应加热而产生磁场;
制冷剂状态量检测部(14、29a),该制冷剂状态量检测部(14、29a)对与在所述制冷循环的至少一部分即规定状态量检测部分(F)中流动的制冷剂相关的状态量进行检测;以及
控制部(11),该控制部(11)至少进行启动时磁场产生控制和启动后磁场产生控制,其中,在所述启动时磁场产生控制中,当在所述制冷循环中进行制热运转的启动时,从所述压缩机构处于驱动状态的时刻起开始进入使所述磁场产生部(68)的输出成为规定最大输出(Mmax)的状态,并在所述制冷剂状态量检测部(14、29a)所检测出的状态量达到第一规定目标状态量(Ph)的时刻结束使所述磁场产生部(68)的输出成为规定最大输出(Mmax)的状态,在所述启动后磁场产生控制中,在所述启动时磁场产生控制结束后,进行将比所述规定最大输出(Mmax)低的第一磁场限制基准值(M2)作为所述磁场产生部(68)的输出的上限施加限制的运转。
2.如权利要求1所述的空调装置(1),其特征在于,
所述感应加热的加热对象部分(F2)包含磁性体材料。
3.如权利要求1或2所述的空调装置(1),其特征在于,
所述规定状态量检测部分(F)是利用所述磁场产生部(68)产生磁场的部分。
4.如权利要求1至3中任一项所述的空调装置(1),其特征在于,
所述制冷剂状态量检测部(14、29a)所检测出的状态量是与在所述规定状态量检测部分(F)中流动的制冷剂相关的温度和/或压力。
5.如权利要求1至4中任一项所述的空调装置(1),其特征在于,
所述制冷剂状态量检测部(14、29a)是对与在所述规定状态量检测部分(F)中流动的制冷剂相关的温度进行检测的温度检测部(14),
所述控制部(11)在所述启动后磁场产生控制中进行启动后磁场产生PI控制,在该启动后磁场产生PI控制中,对所述磁场产生部(68)所产生的磁场的大小和/或使所述磁场产生部(68)产生磁场的频度进行PI控制,以将所述温度检测部(14)所检测出的温度维持在目标维持温度。
6.如权利要求1至5中任一项所述的空调装置(1),其特征在于,
所述制冷剂状态量检测部(14、29a)是对与在所述规定状态量检测部分(F)中流动的制冷剂相关的温度进行检测的温度检测部(14),
所述控制部(11)在满足磁场水平增加条件后执行所述启动时磁场产生控制,该磁场水平增加条件是指当进行使所述磁场产生部(68)所产生的所述磁场的水平在比所述规定最大输出(Mmax)低的范围内提高或降低这样的磁场水平变化处理时所述温度检测部(14)的检测温度有变化或所述温度检测部(14)检测出温度变化。
7.如权利要求6所述的空调装置(1),其特征在于,
通过所述磁场水平变化处理而被输出的最大的所述磁场水平(M1)的值比所述第一磁场限制基准值(M2)小。
8.如权利要求1至7中任一项所述的空调装置(1),其特征在于,
所述制冷剂状态量检测部(14、29)是对与在所述规定状态量检测部分(F)中流动的制冷剂相关的温度进行检测的温度检测部(14),
所述控制部(11)在满足流动条件后执行所述磁场水平增加条件的判定,该流动条件是指在使所述压缩机构成为第一压缩机构状态和输出水平比所述第一压缩机构状态的输出水平高的第二压缩机构状态这两个所述压缩机构的输出不同的压缩机构状态时,所述温度检测部(14)的检测温度在所述第一压缩机构状态下和所述第二压缩机构状态下有变化。
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