[发明专利]粒子数测量系统有效

专利信息
申请号: 201080013089.5 申请日: 2010-04-02
公开(公告)号: CN102362167A 公开(公告)日: 2012-02-22
发明(设计)人: 松山贵史;筱原政良;大槻喜则;冈田薰;秋田将伸 申请(专利权)人: 株式会社堀场制作所
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06;G01N1/22
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 杨暄
地址: 日本国京都府京*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 粒子 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种粒子数测量系统,其特征在于,包括:

排出气体导入端口,其用于导入发动机的排出气体;

稀释气体导入端口,其用于导入稀释气体;

主流路,其一端连接于所述排出气体导入端口;

稀释气体流路,其一端连接于所述稀释气体导入端口、另一端连接于所述主流路;

稀释器,其设在所述主流路以及所述稀释气体流路的连接点或者该连接点的下游附近;

稀释气体流量控制部,其设于所述稀释气体流路,对导入所述稀释器的稀释气体的流量进行控制;

粒子数测量装置,其经由阀而设于所述稀释器的下游,对被稀释了的排出气体中的固体粒子数进行测量,具有定流量功能;

旁流路,其从所述主流路中的所述稀释器以及所述粒子数测量装置之间分出,设有定流量器以及阀;

吸引泵,其连接于所述主流路和所述旁流路的合流点下游,用于向所述主流路和所述旁流路导入排出气体;

信息处理装置,其根据所述稀释气体流量控制部控制的稀释气体流量、以及流经所述粒子数测量装置的流量即装置流量和所述旁流路上的定流量器的设定流量的合计流量,计算出排出气体的稀释率。

2.如权利要求1所述的粒子数测量系统,其特征在于,

所述信息处理装置通过关闭设在所述粒子数测量装置的上游的阀,打开设在所述旁流路的阀,使由所述稀释气体流量控制部控制的流量流过所述旁流路,来对所述旁流路上的定流量器的设定流量进行校正。

3.如权利要求1所述的粒子数测量系统,其特征在于,

所述信息处理装置通过关闭设在所述旁流路的阀,打开设在所述粒子数测量装置的上游的阀,使由所述稀释气体流量控制部控制的流量流过所述主流路,来对所述粒子数测量装置的装置流量进行校正。

4.如权利要求2所述的粒子数测量系统,其特征在于,

所述信息处理装置将所述旁流路上的定流量器的校正时的该定流量器的上游附近的温度以及压力、和粒子数测定时的所述旁流路上的定流量器上游附近的温度以及压力作为参数,对所述旁流路上的定流量器的设定流量进行修正。

5.如权利要求2所述的粒子数测量系统,其特征在于,

所述信息处理装置将所述粒子数测量装置的装置流量的校正时的该粒子数测量装置上游附近的压力、和粒子数测定时的所述粒子数测量装置上游附近的压力作为参数,对所述粒子数测量装置的装置流量进行修正。

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