[发明专利]浊度测量装置

权利要求书

1.一种用于确定在介质中的物质S_j的浓度K_j的浊度测量装置， 包括：

第一测量布置，在所述第一测量布置中，至少处于至少第一角度 的散射光的强度得以记录并且能够被转换成第一测量变量M₁的当前数 值，

至少第二测量布置，在所述第二测量布置中，至少处于至少第二 角度的散射光的强度得以记录并且能够被转换成第二测量变量M₂的当 前数值，所述第二角度不同于所述第一角度，其中所述测量变量M_i(i＝1，2，...)关于所述物质S_j的浓度K_j具有不同的依赖性(M_i(K_j) ＝f_i^j(K_j))，其中所述浊度测量装置已经为用于至少两种物质S_j的所 述测量变量M_i存储了校准函数g_i^j，利用所述校准函数，基于当前数值 M_i，在每一个情形中，物质S_j的适当的浓度能够得以确定(K_j＝g_i^j(M_i))，

其中所述浊度测量装置进一步包括计算单元，所述计算单元适合 于评估所探知的浓度数值g_a^j(M_a)、g_b^j(M_b)，其中关于它们的似然 性，对于不同的物质S_j，a≠b，并且从而识别似乎可能的物质S_j或者检 查较早识别或者预先确定的物质S_j的似然性。

2.根据权利要求1所述的浊度测量装置，其中所述第一测量变量 是经由第一和第二光路径记录的至少两个光强度的函数，并且其中所 述第二测量变量是经由第三和第四路径记录的至少两个测得光强度的 函数。

3.根据权利要求2所述的浊度测量装置，其中所述第一测量变量 基于在第一配置中的四束交变光强度，并且所述第二测量变量基于在 第二配置中的四束交变光强度，其中关于一个或者多个散射角度，所 述第一配置不同于所述第二配置。

4.根据权利要求3所述的浊度测量装置，其中所述第一配置具有 第一光源和第二光源以及第一接收器和第二接收器，其中所述第一光 源到所述第一接收器的光路径基本平行于所述第二光源到所述第二接 收器的光路径延伸，并且其中所述两个光路径的光轴包括处于第一角 度的光散射，所述第一角度例如包括在120°和150°之间，特别是在130° 和140°之间的数值。

5.根据权利要求4所述的浊度测量装置，其中所述第二配置具有 所述第一光源和所述第二光源以及第三接收器和第四接收器，其中所 述第一光源到所述第三接收器的光路径基本平行于所述第二光源到所 述第四接收器的光路径延伸，并且其中所述两个光路径的光轴包括处 于第二角度的光散射，所述第二角度不同于所述第一角度，并且例如 包括在80°和100°之间，特别是在85°和95°之间的数值。

6.根据前述权利要求之一所述的浊度测量装置，其中所述计算单 元被设置成基于比较当前的、时间平均的、总和的、积分的或者以其 它统计方式评估的关于不同的物质S₁在g_a¹(M_a(t))和g_b¹(M_b(t)) 之间的偏差来识别作为所述浊度原因的影响了所述测量变量M_a和M_b的所述数值的那种物质S_j。