[发明专利]用于改良电子装置的测试的系统和方法

权利要求书

1.一种使用一自动测试系统来测试与分类具有第一与第二特性的电子装置的改良方法，该改良方法包含：

提供该自动测试系统，其具有一转动单一化机构、一线性轨道、第一与第二测试台以及至少一个分类箱，所有均与一控制器联系；

以该转动单一化机构将该电子装置单一化；

将该被单一化的电子装置从该转动单一化机构传送到该线性轨道；

将该线性轨道定位，以促使该电子装置相邻该第一测试台；

以该第一测试台来测试该电子装置的该第一特性；

将该第一测试结果储存在该控制器上；

将该线性轨道定位，以促使该电子装置相邻该第二测试台；

以该第二测试台来测试该电子装置的该第二特性；

将该第二测试结果储存在该控制器上；

将该线性轨道定位，以促使该电子装置相邻该至少一个分类箱，在其上，该控制器引导该分类箱，以因应该被储存的第一与第二测试结果从该轨道取得该电子装置，从而将该电子装置分类。

2.如申请专利范围第1项的方法，其中该电子装置为一发光二极管。

3.如申请专利范围第1项的方法，其中该线性轨道是连续的，并且在一平面中移动该电性装置。

4.如申请专利范围第1项的方法，其中该第一测试台测试该电光组件的电特性。

5.如申请专利范围第1项的方法，其中该第二测试台测试该电光组件的光学特性。

6.如申请专利范围第1项的方法，其中该至少一个分类箱包括32个分类箱。

7.一种用于测试与分类具有第一与第二特性的一电子装置的改良自动测试系统，该改良自动测试系统包含：

一转动单一化机构；

一线性轨道；

第一与第二测试台；

至少32个分类箱；

一控制器，其联系与该转动单一化机构、线性轨道、第一与第二测试台和至少32个分类箱有效地联系；

其中该转动单一化机构将该电子装置单一化，将它加载到该线性轨道上，在其上，该轨道将该电子装置定位成邻近该第一与该第二测试台，该电子装置在此处测试，并且随后将该电子装置定位成邻近该至少32个分类箱，在此，依据该些测试结果，该电子装置被分类到该至少32个分类箱的其中一个。

8.如申请专利范围第7项的方法，其中该电子装置为一发光二极管。

9.如申请专利范围第7项的方法，其中该线性轨道为连续性，并且在一平面中移动该电子装置。

10.如申请专利范围第7项的方法，其中该第一测试台测试该电光组件的电特性。

11.如申请专利范围第7项的方法，其中该第二测试台测试该电光组件的光学特性。