[发明专利]使用近场微波的流测量

权利要求书

1.一种用于测量过程流体的流速的流量计，包括：

微波源，被配置为生成微波信号；

探头针，耦合到所述微波源，并且在靠近过程流体的近场中，被配置为将微波信号施加到过程流体；

微波探测器，耦合到所述探头针，被配置为探测来自过程流体的响应于所施加的微波信号的反射的近场微波信号；

流计算电路，根据探测到的微波信号来确定所述过程流体的流速和流构成中至少之一。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述流计算电路确定所述反射的近场微波信号的统计参数。

3.根据权利要求1所述的设备，包括：耦合到所述探头针的定向耦合器。

4.根据权利要求1所述的设备，包括反馈电路，被配置为基于所述反射的微波信号来提供输出。

5.根据权利要求4所述的设备，包括模数变换器，被配置为基于来自反馈电路的与所述反射的微波信号有关的输出来提供数字输出。

6.根据权利要求1所述的设备，其中，所述流计算电路包括微处理器。

7.根据权利要求2所述的设备，其中，所述统计参数包括平均值。

8.根据权利要求1所述的设备，包括将所述微波源耦合到所述探头针的同轴电缆。

9.根据权利要求1所述的设备，其中，所述过程流体包括多相过程流体。

10.一种测量过程流体的流速的方法，包括：

从微波源生成微波信号；

利用探头针将所述微波信号施加到过程流体，所述探头针在靠近过程流体的近场中；

从所述探头针探测响应于所施加的微波信号生成的反射的近场微波信号；

根据探测到的微波信号来确定过程流体的流速。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，确定流速包括确定所述反射的近场微波信号的统计参数。

12.根据权利要求10所述的方法，包括：提供耦合到探头针的定向耦合器。

13.根据权利要求10所述的方法，包括：提供反馈电路，所述反馈电路被配置为基于所述反射的微波信号来提供输出。

14.根据权利要求13所述的方法，包括：将来所述自反馈电路的与所述反射的微波信号有关的输出转换为数字信号。

15.根据权利要求11所述的方法，其中，所述统计参数包括平均值。

16.根据权利要求10所述的方法，包括：提供将所述微波源耦合到所述探头针的同轴电缆。

17.根据权利要求10所述的方法，其中，所述过程流体包括多相过程流体。