[发明专利]电子图像检测装置无效

专利信息
申请号: 201080015766.7 申请日: 2010-04-01
公开(公告)号: CN102388457A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 贝努瓦·吉法德;伊冯·卡佐 申请(专利权)人: 原子能与替代能源委员会
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;G01T1/24;H01J31/49;H01L31/0224
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 电子 图像 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种电子图像检测装置,包括:

在绝缘层(22)的第一表面上的多个金属电极(24);以及

非晶硅区域(26,34),所述非晶硅区域在所述绝缘层上延伸于所述金属电极之间。

2.如权利要求1所述的装置,其中所述非晶硅(26,34)是被氢化的。

3.如权利要求1或2所述的装置,其中所述非晶硅(26,34)是近本征非晶硅。

4.如权利要求1到3中任一项所述的装置,其中在所述绝缘层(12)中形成位于所述金属电极之间的槽(32)。

5.如权利要求1到4中任一项所述的装置,其中在所述绝缘层(22)的第二表面上提供面对至少一个非晶硅区域的至少一个栅电极(28),所述至少一个栅电极能够连接到偏压源(VG)。

6.如权利要求5所述的装置,其中所述栅电极(28)部分地面对所述金属电极(24)延伸。

7.如权利要求1到6中任一项所述的装置,其中所述非晶硅(26,34)的厚度范围在2nm至500nm之间、优选地在10nm至100nm之间。

8.如权利要求1到7中任一项所述的装置,其中所述金属电极(24)以大致1μm的距离分开。

9.如权利要求1到8中任一项所述的装置,其中所述金属电极(24)由铝制成。

10.如权利要求1到9中任一项所述的装置,其中所述绝缘层(22)在其第二表面侧与支撑件(20)接触,所述支撑件(20)由在半导体衬底(40)上延伸的互连层的层叠体(42)形成。

11.如权利要求10所述的装置,其中所述金属电极(24)通过形成在所述互连层的层叠体(42)中的导电过孔连接到在所述半导体衬底(40)中形成的电子元件。

12.一种包括光阴极(56)、微通道板(60)和如权利要求1到11中任一项所述的电子图像检测装置(64)的图像传感器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于原子能与替代能源委员会,未经原子能与替代能源委员会许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201080015766.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top