[发明专利]用于测试印刷电路板的测试装置的接触连接单元

说明书

技术领域

本发明涉及一种接触单元，所述接触单元包括用于测试无零件印刷电路板的并行测试器的全网式卡匣和适配器。

背景技术

用于测试印刷电路板的装置分为两类，该两类装置为：指状测试器，其使用多个接触指逐次地扫描待测试的印刷电路板的测试点；以及并行测试器，其通过适配器来同时接触待测试的印刷电路板的所有测试点。因为这样的适配器将测试装置的预设的规则的基本网格转换为待测试的印刷电路板的测试点的通常不规则的排列，所以其亦称为网格图案适配器。此类型的适配器通常包括具有导向孔的多个隔开的导向板，所述导向孔被设计成容纳测试针。测试针可以在适配器中倾斜，使得其能够在规则的基本网格的接触点与通常偏离基本网格的规则排列的印刷电路板测试点之间建立电连。

通常，适配器并不直接位于基本网格上，而是将所谓的全网式卡匣提供于基本网格与适配器之间。类似于适配器，全网式卡匣包括多个导向板，其中提供与基本网格的图案匹配的接触销。将所述接触销设计为弹簧接触销。使用此类全网式卡匣的原因在于：可以将这样的弹簧接触销安装于适配器中，进而将基本网格的图案映像于待测试的印刷电路板的测试点上，所述弹簧接触销因过粗而不能在适配器中倾斜。另一方面，必需借助于全网式卡匣的弹簧接触销来补偿由待测试的印刷电路板中的表面不规则性和/或由适配器中的针倾斜引起的高度变化。

此类型的全网式卡匣可以是测试装置的主要部分。然而，或者可以可更换地将该全网式卡匣设计为位于测试装置的基本网格上的独立元件。

必须制造用于待测试的每一印刷电路板类型的专用适配器。另一方面，全网式卡匣不受待测试的印刷电路板类型的影响。

在适配器中可使用所谓的普通针。这些普通针为0.1mm至0.2mm粗的导线的细、直部分。由于现今几乎所有测试器皆被设计成用于测试印刷电路板的两侧，则测试装置需要在待测试的印刷电路板的下方与上方皆提供适配器。如果要使所述针不掉出适配器，则必须将其固定于适配器中。如果使用这样的普通针，则通过多孔乳胶膜或通过尼龙(nylon)织物来将其固定。必须在针穿过乳胶膜的点上对乳胶膜进行预打孔。对此类型的膜进行打孔非常昂贵且困难。由于针可在个别线之间穿透织物，则使用织物相当简便。然而，此举引起针的偏移，该偏移可由于印刷电路板测试点的密度增大且因此针的密度增大而导致严重问题。

自EP149776B1了解到适配器的测试针，所述测试针的一个末端具有球形头以防止测试针滑入适配器中。然而，此公开案中描述的适配器仅适合于用以单面测试印刷电路板的装置，因为测试针和配接器不可倒置，其中测试针的球形头必须在配接器的顶侧。此类型的测试针通过在距针的上端微小距离处向其提供球形塑料头而得以进一步开发。因此，可将另一多孔板置放于适配器上，从而将针的塑料头固定在此多孔板与另一导向板之间。以此方式固定的针能够不再掉出适配器。然而，这些塑料头及该额外固定板需要在相邻针之间具有最小距离，因此此固定方法不允许针排列的密度有任何的进一步增大。

德国专利申请DE102006059429A1描述用于测试无零件印刷电路板的并行测试器，该测试器的基本网格由两个交错方网格组成。每一方网格具有50密耳的网格间距。该两个网格在X方向及Y方向上相对于彼此偏移半个网格间距(＝25密耳)(图2b)。可将此网格示为以45°的角度放置的方网格，此倾斜的方网格的网格间距大约为0.89mm。总体而言，基本网格的接触点的密度为每平方厘米124个接触点。由于待测试的印刷电路板的测试点以不规则图案排列，故存在其中密度显著增大的区域。在例如1cm×1cm的区域中，该密度可达到多于600个印刷电路板测试点。

使用已知的适配器，可局部达到相邻测试针的极紧密间距。自EP206704B1了解到适配器的测试针，所述测试针在其自由端具有锥形接触尖。使用这些针，相邻接触尖之间的距离可减小至0.25mm或更小。然而，由于上述固定方法(乳胶膜、织物、塑料头)，故不可能在例如1cm×1cm的预设区域中排列多个这样的紧密隔开的测试针。因此，极需要用于接触印刷电路板的装置，该装置允许测试针的面向待测试的印刷电路板的末端以每平方厘米600个测试针的密度排列。

DE19644725C1描述全网式卡匣的基本结构。在该全网式卡匣中，安装全网格销，每一全网格销包括上端销部分及下端销部分，所述部分由盘簧以弹性方式及导电方式彼此连接。弹簧具有比销部分的直径大的直径。用于容纳销部分和弹簧的孔被分阶，进而将全网格销固持于全网式卡匣中。