[发明专利]用于评估DBR激光二极管的操作特性的方法和设备

权利要求书

1.一种评估DBR激光二极管的操作特性的方法，所述DBR激光二极管包括波长调谐区和增益区，所述方法包括：

向所述DBR激光器的波长调谐区中注入诊断电流，其中所述诊断电流足以在波长调谐区中产生光的放大自发发射，且波长调谐区的带隙大于增益区的带隙，以使从波长调谐区发射的光被增益区吸收；

测量增益区中由增益区中吸收的光所产生的光电流；以及

使增益区中测得的光电流与所述DBR激光二极管的操作特性的评估相联系，其中当测得的光电流偏离给定光电流度量超过可接受的量时，使测得的光电流与达不到标准的操作特性相联系，且当测得的光电流偏离所述给定光电流度量可接受量时，使测得的光电流与验证合格的操作特性相联系。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，随时间测量增益区中的光电流，并通过将测得光电流与给定的时间敏感的光电流度量作比较，使光电流与经验证合格或达不到标准的操作特性相联系。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，通过将测得光电流与预定激光降级阈值比较，来使测得光电流与经验证合格或达不到标准的操作特性相联系。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在多个不同时刻测量增益区中的光电流，并通过将在多个不同时刻测得的光电流与给定光电流度量比较，使在增益区中的光电流与经验证合格或达不到标准的操作特性相联系。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述激光二极管的强化试验测试期间在原位测量所述增益区中的光电流。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述激光二极管的强化试验测试之前或之后测量所述增益区中的光电流。

7.一种评估DBR激光二极管的操作特性的方法，所述DBR激光二极管包括相位控制区、包含布拉格反射镜的DBR区以及增益区，所述方法包括：

向所述DBR激光器的相位控制区中注入诊断电流，其中所述诊断电流足以在相位控制区中产生光的放大自发发射，以使从相位控制区发射的光被所述DBR激光器的DBR区或增益区吸收；

测量DBR区或增益区中由DBR区或增益区中吸收的光所产生的光电流；以及

使DBR区或增益区中测得的光电流与所述DBR激光二极管的操作特性的评估相联系，其中当测得的光电流偏离给定光电流度量超过可接受的量时，使测得的光电流与达不到标准的操作特性相联系，且当测得的光电流偏离所述给定光电流度量可接受量时，使测得的光电流与验证合格的操作特性相联系。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，在所述DBR激光器的增益区中测量所述光电流，且使在所述增益区中测得的光电流与所述DBR激光二极管的操作特性的评估相联系。

9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，在所述DBR激光器的DBR区中测量所述光电流，且使在所述DBR区中测得的光电流与所述DBR激光二极管的操作特性的评估相联系。

10.一种用于评估DBR激光二极管的操作特性的强化试验设备，其中：

所述DBR激光二极管包括相位控制区、包含布拉格反射镜的DBR区以及增益区；

所述强化试验设备被编程以向所述DBR激光二极管中注入超过所述DBR激光二极管的正常操作条件的级别的电流；以及

所述强化试验设备进一步被编程以

向所述DBR激光器的相位控制区中注入诊断电流，其中所述诊断电流足以在相位控制区中产生光的放大自发发射，以使从相位控制区发射的光被所述DBR激光器的DBR区或增益区吸收，

测量DBR区或增益区中由DBR区或增益区中吸收的光所产生的光电流，以及

使DBR区或增益区中测得的光电流与所述DBR激光二极管的操作特性的评估相联系，其中当测得的光电流偏离给定光电流度量超过可接受的量时，使测得的光电流与达不到标准的操作特性相联系，且当测得的光电流偏离所述给定光电流度量可接受量时，使测得的光电流与验证合格的操作特性相联系。