[发明专利]用于粘附测试的粘附元件以及对应测试过程无效

专利信息
申请号: 201080016749.5 申请日: 2010-03-29
公开(公告)号: CN102395871A 公开(公告)日: 2012-03-28
发明(设计)人: C.德尔萨尔托 申请(专利权)人: 耶尼私人有限公司
主分类号: G01N19/04 分类号: G01N19/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 赵华伟;杨炯
地址: 意大*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要:
搜索关键词: 用于 粘附 测试 元件 以及 对应 过程
【权利要求书】:

1. 一种用于粘附测试的粘附元件(1, 101),包括:

- 双粘附层(4, 104),其包括第一粘附表面(6, 106)和第二粘附表面(8, 108),所述第一粘附表面被设计成以粘附关系与经受所述测试的表面(20, 220)共同协作;以及

- 支撑层(2),所述支撑层具有相当粘附表面(2a),所述相当粘附表面被设计成以粘附关系与所述第二粘附表面(8, 108)共同协作;

所述粘附元件特征在于,所述双粘附层(4, 104)具有成片段结构。

2. 根据权利要求1所述的粘附元件(1, 101),其特征在于,所述支撑层(2)具有织物结构。

3. 根据权利要求1所述的粘附元件(1, 101),其特征在于,所述成片段结构包括多个四边形片件(10)或多个粘附球体(110),所述四边形片件(10)和粘附球体(110)限定所述双粘附层(4, 104)的片段。

4. 根据权利要求3所述的粘附元件(101),其特征在于,所述粘附球体每个均包括涂层有粘附剂(148)的球体(154)。

5. 根据权利要求4所述的粘附元件(101),其特征在于,所述球体(154)由金属材料制成。

6. 一种用于粘附测试的过程,其特征在于,所述过程包括以下步骤:

- 在经受所述测试的表面(20, 220)上应用根据权利要求1-5中一项或多项所述的粘附元件(1, 101),以便实现所述粘附元件(1, 101)与所述表面(20, 220)之间的粘附;

- 从所述双粘附层(4, 104)移除所述支撑层(2);以及

- 评估所述双粘附层(4, 104)的片段(10, 110)的分布。

7. 根据权利要求6所述的过程,其特征在于,评估片段(10, 110)的分布的所述步骤包括:验证片段在所述支撑层(2)的所述相当粘附表面(2a)上的存在性。

8. 根据权利要求6所述的过程,其特征在于,评估片段(10, 110)的分布的所述步骤包括:验证片段在所述表面(20)上的存在性。

9. 根据权利要求6所述的过程,其特征在于,所述移除步骤手动实施或通过自动装置来实施。

10. 根据权利要求6所述的过程,其特征在于,此外其包括将测试层应用到所述双粘附层(4, 104)上的另一步骤,所述测试层具有带有预定粘附程度的相当粘附表面,其中,应用所述测试层的所述另一步骤在从所述双粘附层(4, 104)移除所述支撑层(2)之后,所述过程此外包括从所述双粘附层(4,104)上移除所述测试层的另一步骤;其中,在应用所述测试层的另一步骤之后是移除的所述另一步骤且之后是评估片段(10, 110)分布的所述步骤,应用所述测试层的所述另一步骤、移除所述测试层的所述另一步骤以及评估片段(10, 110)分布的所述步骤针对预定数量的循环按顺序重复进行,且具有所述测试层的相当粘附表面的粘附程度的增加值。

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